[发明专利]一种淀粉小角X射线散射波谱参数的图形分析方法在审
| 申请号： | 201710011976.2 | 申请日： | 2017-01-08 |
| 公开（公告）号： | CN106645239A | 公开（公告）日： | 2017-05-10 |
| 发明（设计）人： | 韦存虚;何巍;范孝旭;王志峰 | 申请（专利权）人： | 扬州大学 |
| 主分类号： | G01N23/201 | 分类号： | G01N23/201 |
| 代理公司： | 南京禹为知识产权代理事务所(特殊普通合伙)32272 | 代理人： | 王晓东 |
| 地址： | 225009 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种淀粉小角X射线散射波谱参数的图形分析方法，将淀粉SAXS波谱数据录入数据处理软件，作波谱图，用图形处理软件，依图作相应参考线，并用相关工具定量测量所须参数，计算得淀粉颗粒的片层厚度；其中淀粉SAXS波谱数据为散射角度(x轴数据)和散射强度(y轴数据)。本发明提供的图形分析方法，可获得淀粉的片层厚度参数，满足淀粉研究的需要，同时操作简单，也满足未经过专业培训的科研工作者的需要；图形分析方法基于Photoshop软件，准确度和可控度较高，能够更加直观的研究淀粉片层厚度变化；图形分析方法基于同一相对模式，降低误差，结果更加真实可靠。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 淀粉 小角 射线 散射 波谱 参数 图形 分析 方法 | ||
【主权项】：
一种淀粉小角X射线散射波谱参数的图形分析方法，其特征在于：包括，将淀粉SAXS波谱数据录入数据处理软件，作波谱图；用图形处理软件，依所述波谱图作相应参考线；用相关工具定量测量所需参数，计算得淀粉颗粒的片层厚度；其中，所述淀粉SAXS波谱数据为x轴数据即散射角度，以及，y轴数据即散射强度。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于扬州大学，未经扬州大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201710011976.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
