[发明专利]一种淀粉小角X射线散射波谱参数的图形分析方法

权利要求书

1.一种淀粉小角X射线散射波谱参数的图形分析方法，其特征在于：包括，

将淀粉SAXS波谱数据录入数据处理软件，作波谱图；

用图形处理软件，依所述波谱图作相应参考线；

用相关工具定量测量所需参数，计算得淀粉颗粒的片层厚度；其中，所述淀粉SAXS波谱数据为x轴数据即散射角度，以及，y轴数据即散射强度。

2.如权利要求1所述淀粉小角X射线散射波谱参数的图形分析方法，其特征在于：所述数据处理软件，其为Origin、Excel、Sigmaplot、GraphPad、Matlab、Python中的一种或多种。

3.如权利要求1或2所述淀粉小角X射线散射波谱参数的图形分析方法，其特征在于：所述图形处理软件，其为Photoshop；所述相关工具，其为Photoshop图形软件中的标尺工具和信息工具。

4.如权利要求1或2所述淀粉小角X射线散射波谱参数的图形分析方法，其特征在于：所述相应参考线，包括，

基线，其为在波谱峰的基部绘制一条与波谱峰两边相切的直线；

位置线，其为从峰值最高点向x轴做一条垂直线；

强度线，其为从峰值最高点到与基线交点所确定的线段；

半峰宽度线，其为从峰强度线的中点作平行线，该平行线与波峰线相交，所得线段。

5.如权利要求1或2所述淀粉小角X射线散射波谱参数的图形分析方法，其特征在于：所述参数，包括波峰的位置S_max、波峰的强度I_max、半峰宽度ΔS。

6.如权利要求5所述淀粉小角X射线散射波谱参数的图形分析方法，其特征在于：所述波峰的位置S_max，其为S_max＝S₀+(L₁/L₂)×Δq；其中，

L₁，为原点和波谱峰的位置线交x轴的交点所确定的线段长度；

L₂，为x轴散射角度的单位长度；

Δq，为x轴单位长度对应的散射角度；

S₀，为原点对应的散射角度。

7.如权利要求5所述淀粉小角X射线散射波谱参数的图形分析方法，其特征在于：所述波峰的强度I_max，其为I_max＝(S₁/S₂)×ΔI；其中，

S₁，为峰强度线段的长度；

S₂，为y轴散射强度的单位长度；

ΔI，为y轴单位长度对应的散射强度。

8.如权利要求5所述淀粉小角X射线散射波谱参数的图形分析方法，其特征在于：所述半峰宽度ΔS，其为ΔS＝((x₂-x₁)/L₂)×Δq；其中，

x₁，为半峰宽度线段的左端交点对应的x轴坐标；

x₂，为半峰宽度线段的右端交点对应的x轴坐标；

L₂，为x轴散射角度的单位长度；

Δq，为x轴单位长度对应的散射角度。

9.如权利要求书6～8任一所述淀粉小角X射线散射波谱参数的图形分析方法，其特征在于：参考线及测量线的具体内容，其中：

基线，为直线AB；

峰位置线，为直线CD；

峰强度线，为线段CE；

半峰宽线，为线段GH；

L₁，为线段OD的长度；

L₂，为线段KL的长度；

S₁，为线段CE的长度；

S₂，为线段IJ的长度；

S₀，为Δq，为ΔI，为200。

10.如权利要求1、2或6～8任一所述淀粉小角X射线散射波谱参数的图形分析方法，其特征在于：所述散射角度和散射强度(y轴数据)，其中，散射角度为散射强度为0～1000；所述淀粉颗粒的片层厚度，其为片层厚度为D，D＝2π/S_max。