[发明专利]晶圆抛光方法及抛光装置有效

专利信息
申请号: 201680074228.2 申请日: 2016-11-04
公开(公告)号: CN108369906B 公开(公告)日: 2022-07-05
发明(设计)人: 川崎智宪;寺川良也 申请(专利权)人: 胜高股份有限公司
主分类号: H01L21/304 分类号: H01L21/304;B24B37/08
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 张泽洲;刘林华
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种晶圆抛光方法及抛光装置,其抑制晶圆外周的消除量的形状的偏差使其不随着抛光垫寿命的进展而变化。本发明的晶圆抛光方法其对贴附了抛光垫(12)的旋转平台(10)上供给浆料,并且用加压头(13)加压保持抛光垫(12)上的晶圆的同时使旋转平台(10)及加压头(13)旋转,以对晶圆的单面进行抛光,其监测晶圆抛光中的抛光垫(12)的表面温度T及旋转驱动旋转平台(10)的马达(11a)的负荷电流值(F)而计算出F/T值,并基于所述F/T值控制旋转平台(10)的旋转速度及加压头(13)的抛光压力中的至少一个。
搜索关键词: 抛光 方法 装置
【主权项】:
1.一种晶圆抛光方法,其对贴附了抛光垫的旋转平台上供给浆料并且用加压头加压保持所述抛光垫上的晶圆的同时使所述旋转平台及所述加压头旋转以对所述晶圆的单面进行抛光,所述晶圆抛光方法的特征在于,监测旋转驱动所述旋转平台的马达的负荷电流值F及所述晶圆抛光中的所述抛光垫的表面温度T而计算出F/T值,并基于所述F/T值控制所述旋转平台的旋转速度及所述加压头的抛光压力中的至少一个。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于胜高股份有限公司,未经胜高股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201680074228.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top