[发明专利]光波的波形测量装置和方法有效
| 申请号： | 201680067793.6 | 申请日： | 2016-11-18 |
| 公开（公告）号： | CN108291842B | 公开（公告）日： | 2020-09-18 |
| 发明（设计）人： | 金坰泽;南昌熙;朴升凡;曹优植;金敬承 | 申请（专利权）人： | 基础科学研究院;光州科学技术院 |
| 主分类号： | G01J9/02 | 分类号： | G01J9/02;G02B27/14 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人： | 李盛泉;孙昌浩 |
| 地址： | 韩国大*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种用于测量光波的波形的装置及方法，根据本发明的实施例的光波测量装置包括：脉冲分离部，将输入光波分离为基础脉冲和信号脉冲；时间延迟调整部，调整所述基础脉冲和所述信号脉冲之间的时间延迟；聚焦部，将调整时间延迟的所述基础脉冲和所述信号脉冲聚焦到电离物质；以及电离量测量部，从借助聚焦的所述基础脉冲以及所述信号脉冲生成的电子和/或离子测量电离量，其中，所述光波测量装置根据时间延迟而获取通过信号脉冲而变化的电离变化量，从而获取输入光波的波形。 | ||
| 搜索关键词： | 光波 波形 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种光波测量装置，根据时间延迟而获取通过信号脉冲而变化的电离变化量，从而获取输入光波的波形，其中，包括：脉冲分离部，将输入光波分离为基础脉冲和信号脉冲；时间延迟调整部，调整所述基础脉冲和所述信号脉冲之间的时间延迟；聚焦部，将调整时间延迟的所述基础脉冲和所述信号脉冲聚焦到电离物质；以及电离量测量部，从借助聚焦的所述基础脉冲以及所述信号脉冲生成的电子和/或离子测量电离量。
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