[发明专利]用于制造半导体纳米结构的平坦的自由接触面的方法有效

专利信息
申请号: 201680063910.1 申请日: 2016-10-22
公开(公告)号: CN109075189B 公开(公告)日: 2022-03-25
发明(设计)人: S.黑特;J.格哈茨;T.舍珀斯;D.格吕茨马歇尔 申请(专利权)人: 于利奇研究中心有限公司
主分类号: H01L29/66 分类号: H01L29/66;H01L29/06;H01L29/40;H01L29/775;B82Y10/00;B82Y40/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 姬亚东;刘春元
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及一种用于制造半导体纳米结构的平坦的自由接触面的方法,其中至少一个纳米结构(2)布置在起始衬底(1)的表面上,在所述转移衬底的(1)的相同表面上施加第一层(3),所述第一层将所述至少一个纳米结构(2)嵌入,并且将第二衬底(5)施加到所述第一层(3)上,其中随后将所述转移衬底(1)与所述第一层(3)分离,使得至少一个嵌入其中的纳米结构(2)具有平坦的自由表面。根据本发明,在将所述至少一个纳米结构(2)施加到所述转移衬底(1)上之前将可通过溶剂溶解的附加层(6)施加到所述转移衬底(1)的表面上,并且借助溶剂将所述转移衬底(1)与所述第一层(3)分离。通过该方式能够实现纳米结构的平坦化/堆叠和随后变得容易的电接触。在迭代应用方法步骤的情况下,可以有利地构建例如由水平定向的纳米线网络构成的多重层(图5B)。
搜索关键词: 用于 制造 半导体 纳米 结构 平坦 自由 接触面 方法
【主权项】:
1.一种用于平坦化纳米结构的方法,‑ 其中至少一个纳米结构(2)布置在起始衬底(1)的表面上,‑ 其中在所述起始衬底的(1)的相同表面上施加第一层(3),所述第一层将所述至少一个纳米结构(2)嵌入,‑ 并且其中将目标衬底(5)施加到所述第一层(3)上,‑ 其中随后,将所述起始衬底(1)与所述第一层(3)分离,使得至少一个嵌入其中的纳米结构(2)具有平坦的自由表面,其特征在于:‑ 在将所述至少一个纳米结构(2)施加到所述起始衬底(1)上之前将附加层(6)施加到所述起始衬底(1)的表面上,‑ 并且借助溶剂将所述起始衬底(1)与所述第一层(3)分离。
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