[发明专利]放射线成像系统、信息处理装置和方法、以及存储介质有效
| 申请号： | 201680063496.4 | 申请日： | 2016-10-24 |
| 公开（公告）号： | CN108348203B | 公开（公告）日： | 2021-12-21 |
| 发明（设计）人： | 町田佳士;岩下贵司 | 申请（专利权）人： | 佳能株式会社 |
| 主分类号： | A61B6/00 | 分类号： | A61B6/00;G01T7/00 |
| 代理公司： | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人： | 周博俊 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种放射线成像系统，包括：检测器，包括多个像素，所述多个像素获得与透射通过被检体的入射放射线对应的像素值；以及信息处理单元，被配置为执行如下处理：使用所述多个像素中的一个任意像素的像素值，根据所述任意像素的像素值计算出的所述任意像素的放射线量子的能量的平均值，指示在所述任意像素的像素值和包含在被检体中的物质的厚度之间的关系的第一表格，以及指示在所述任意像素的放射线量子的能量的平均值和包含在被检体中的物质的厚度之间的关系的第二表格，来估计关于包含在被检体中的物质的厚度的信息。 | ||
| 搜索关键词： | 放射线 成像 系统 信息处理 装置 方法 以及 存储 介质 | ||
【主权项】：
1.一种放射线成像系统，包括：检测器，包括多个像素，所述多个像素获得与透射通过被检体的入射放射线对应的像素值；以及信息处理单元，被配置为执行如下处理：使用所述多个像素中的一个任意像素的像素值，被根据所述任意像素的像素值计算出的所述任意像素的放射线量子的能量的平均值，指示在所述任意像素的像素值和包含在被检体中的物质的厚度之间的关系的第一表格，以及指示在所述任意像素的放射线量子的能量的平均值和包含在被检体中的物质的厚度之间的关系的第二表格，来估计关于包含在被检体中的物质的厚度的信息。
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