[发明专利]放射线成像系统、信息处理装置和方法、以及存储介质

权利要求书

1.一种放射线成像系统，包括：

检测器，包括多个像素，所述多个像素获得与透射通过被检体的入射放射线对应的像素值；以及

信息处理单元，被配置为执行如下处理：使用所述多个像素中的一个任意像素的像素值，根据所述任意像素的像素值而计算出的所述任意像素的放射线量子的能量的平均值，指示在所述任意像素的像素值和包含在被检体中的物质的厚度之间的关系的第一表格，以及指示在所述任意像素的放射线量子的能量的平均值和包含在被检体中的物质的厚度之间的关系的第二表格，来估计关于包含在被检体中的物质的厚度的信息，

其中，信息处理单元包括：

第一计算单元，被配置为基于所述任意像素的像素值来计算所述多个像素中的所述任意像素的像素值的平均，

第二计算单元，被配置为根据使用所述任意像素的像素值而计算出的所述任意像素的像素值的方差和由第一计算单元计算出的所述任意像素的像素值的平均，来计算所述任意像素的放射线量子的能量的平均值，以及

估计单元，被配置为使用由第一计算单元计算出的所述任意像素的像素值的平均、由第二计算单元计算出的所述任意像素的放射线量子的能量的平均值、第一表格和第二表格来估计关于包括在被检体中的物质的厚度的信息，

其中，

第一表格指示在所述任意像素的像素值的平均、包含在被检体中的物质的厚度、和包含在被检体中的物质间的混合比率之间的关系，

第二表格指示在所述任意像素的放射线量子的能量的平均值、包含在被检体中的物质的厚度、和包含在被检体中的物质间的混合比率之间的关系，并且

估计单元估计关于包含在被检体中的物质的厚度和混合比率的信息。

2.根据权利要求1所述的放射线成像系统，其中，图像处理单元还包括：像素值产生单元，被配置为根据所估计的关于物质的厚度和混合比率的信息来产生物质的像素值。

3.根据权利要求2所述的放射线成像系统，其中，像素值产生单元包括第一像素值产生单元，第一像素值产生单元被配置为基于关于第一组成物质的厚度和混合比率的第一信息来产生作为第一组成物质的像素值的第一像素值，并且，像素值产生单元包括第二像素值产生单元，第二像素值产生单元被配置为基于关于第二组成物质的厚度和混合比率的第二信息来产生作为第二组成物质的像素值的第二像素值。

4.根据权利要求3所述的放射线成像系统，其中，在当包含在被检体中的两种不同物质中的第一组成物质的放射线能量表示为“E[kev]”时获得的线性衰减系数由“μ₁(E)”表示，当这两种物质中的第二组成物质的放射线能量表示为“E[kev]”时获得的线性衰减系数由“μ₂(E)”表示，被检体的厚度由“d”表示，第一组成物质的混合比率由“γ”表示，用于将能量转换为像素值的任意系数由“β”表示，第一像素值由“I₁”表示，第二像素值由“I₂”表示，并且在通过被检体之前的放射线的能谱由“n(E)”表示时，像素值产生单元通过执行以下计算中的至少一项来产生至少一种物质的像素值：

[数学式7]

和

[数学式8]

5.根据权利要求3所述的放射线成像系统，其中，在放射线的有效能量由“E_eff”表示，当包含在被检体中的两种不同物质中的第一组成物质的放射线的有效能量表示为“E_eff[kev]”时获得的线性衰减系数由“μ₁(E_eff)”表示，当这两种物质中的第二组成物质的放射线的有效能量表示为“E_eff[kev]”时获得的线性衰减系数由“μ₂(E_eff)”表示，第一组成物质的厚度由“d₁”表示，第二组成物质的厚度由“d₂”表示，第一物质的混合比率由“γ”表示，用于将能量转换为像素值的任意系数由“β”表示，第一像素值由“I₁”表示，并且第二像素值由“I₂”表示时，像素值产生单元通过执行以下计算中的至少一项来产生至少一种物质的像素值：

[数学式9]

和

[数学式10]