[发明专利]用于在“H桥”型装置中限制电流的方法有效
申请号: | 201680058278.1 | 申请日: | 2016-08-26 |
公开(公告)号: | CN108141033B | 公开(公告)日: | 2021-03-23 |
发明(设计)人: | T.巴沃瓦 | 申请(专利权)人: | 法国大陆汽车公司;大陆汽车有限公司 |
主分类号: | H02H7/122 | 分类号: | H02H7/122;H02H7/08;H02M1/32 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 徐红燕;申屠伟进 |
地址: | 法国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明是针对一种用于在包括多个晶体管(T1、T2、T3、T4)的“H桥”型装置中限制电流的方法,其特征在于其包括以下步骤:•检测所述多个晶体管(T1、T2、T3、T4)中的晶体管(T)上的故障;•关断在其上检测到故障的所述晶体管(T);•在与所述晶体管(T)相对的晶体管上检测输出端上积累的能量的放电;以及•关断所述多个晶体管(T1、T2、T3、T4)中的其它晶体管。本发明还涉及一种用于在包括多个晶体管的“H桥”型装置中限制电流的系统。 | ||
搜索关键词: | 用于 装置 限制 电流 方法 | ||
【主权项】:
用于在包括多个晶体管(T1、T2、T3、T4)的“H桥”型装置中限制电流的方法,其特征在于,其包括以下步骤:• 检测所述多个晶体管(T1、T2、T3、T4)中的晶体管(T)上的故障;• 关断在其上检测到故障的所述晶体管(T);• 在与所述晶体管(T)相对的晶体管上检测输出端上积累的能量的放电;以及• 关断所述多个晶体管(T1、T2、T3、T4)中的其它晶体管。
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