[发明专利]用于在“H桥”型装置中限制电流的方法有效
申请号: | 201680058278.1 | 申请日: | 2016-08-26 |
公开(公告)号: | CN108141033B | 公开(公告)日: | 2021-03-23 |
发明(设计)人: | T.巴沃瓦 | 申请(专利权)人: | 法国大陆汽车公司;大陆汽车有限公司 |
主分类号: | H02H7/122 | 分类号: | H02H7/122;H02H7/08;H02M1/32 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 徐红燕;申屠伟进 |
地址: | 法国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 装置 限制 电流 方法 | ||
1.用于在包括多个晶体管(T1、T2、T3、T4)的“H桥”型装置中限制电流的方法,其特征在于,其包括以下步骤:
• 检测所述多个晶体管(T1、T2、T3、T4)中的晶体管上的故障;
• 关断所述多个晶体管(T1、T2、T3、T4)中的在其上检测到故障的一个或多个晶体管;
• 在与所述一个或多个晶体管相对的晶体管上检测输出端上积累的能量的放电;以及
• 关断所述多个晶体管(T1、T2、T3、T4)中的其它晶体管。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述故障与具有过高强度的电流有关。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述故障与热现象有关。
4.根据权利要求1、2或3所述的方法,其特征在于,所述在与所述一个或多个晶体管相对的晶体管上检测输出端上积累的能量的放电是由相对的晶体管上的电流检测器实现的。
5.根据权利要求1、2或3所述的方法,其特征在于,所述在与所述一个或多个晶体管相对的晶体管上检测输出端上积累的能量的放电是由相对的晶体管上的电压检测器实现的。
6.用于在包括多个晶体管(T1、T2、T3、T4)的“H桥”型装置中限制电流的系统,其特征在于,其包括用于以下的部件:
• 检测所述多个晶体管(T1、T2、T3、T4)中的晶体管上的故障;
• 关断所述多个晶体管(T1、T2、T3、T4)中的在其上检测到故障的一个或多个晶体管;
• 在与所述一个或多个晶体管相对的晶体管上检测输出端上积累的能量的放电;以及
• 关断所述多个晶体管(T1、T2、T3、T4)中的其它晶体管。
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