[发明专利]用于确定与井或地层中的有机质相关联的孔隙度的方法

摘要

本文提供一种用于确定与井或地层中的有机质相关联的孔隙度(PAOM)的方法。还提供了一种用于执行所述方法的系统。

主权项

一种用于估计与井或地层中的有机质相关联的孔隙度的方法，其包括：(a)获得从井或地层获得的多个岩石样品的扫描电子显微镜(SEM)或聚焦离子束(FIB)‑SEM图像；(b)根据所述SEM或FIB‑SEM图像确定与有机质相关联的孔隙度(PAOM)、总孔隙度(PHIT)和有机质(OM)含量(TOC)；(c)使用方程式(1)：ATR＝PAOM/(PAOM+OM)确定所述多个岩石样品的最大表观转化率(ATR)，其中所述PAOM和OM在(b)中确定；(d)针对在(b)中获得的至少三个数据点，对所述PAOM与所述PHIT和所述TOC的比率进行曲线拟合以生成数学函数方程式或其交叉图(2)中的至少一个；(e)确定沿着所述井或地层的测井井筒或岩芯样品的长度的位置的样品的总孔隙度(PHIT)和有机质(OM)含量(TOC)；(f)使用所述数学函数方程式或交叉图(2)计算所述测井井筒或岩芯样品的所述样品的第一PAOM，所述数学函数方程式或交叉图(2)使用(e)中确定的所述总孔隙度(PHIT)和所述有机质(OM)含量(TOC)生成；(g)使用方程式(3)：PAOM＝ATR×OM/(1‑ATR)计算所述测井井筒或岩芯样品的所述样品的第二PAOM，其中所述ATR在(c)中确定并且所述OM在(e)中确定；(h)将(f)中计算的所述第一PAOM与(g)中计算的所述第二PAOM进行比较；以及(i)选择计算的所述第一PAOM，除非所述第一PAOM大于所述第二PAOM，其中选择所述第二PAOM。