[发明专利]用于确定与井或地层中的有机质相关联的孔隙度的方法有效
| 申请号： | 201680048731.0 | 申请日： | 2016-09-06 |
| 公开（公告）号： | CN107923240B | 公开（公告）日： | 2021-02-26 |
| 发明（设计）人： | J·沃尔斯;A·莫尔科特;Y·穆;M·冈兹 | 申请（专利权）人： | 因格瑞恩股份有限公司 |
| 主分类号： | E21B49/08 | 分类号： | E21B49/08 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 张欣;钱慰民 |
| 地址： | 美国得*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 用于 确定 地层 中的 有机质 相关 孔隙 方法 | ||
1.一种用于估计与井或地层中的有机质相关联的孔隙度的方法，其包括：
(a)获得从井或地层获得的多个岩石样品的扫描电子显微镜SEM或聚焦离子束FIB-SEM图像；
(b)根据所述SEM或FIB-SEM图像确定与有机质相关联的孔隙度PAOM、总孔隙度PHIT和有机质OM含量TOC；
(c)使用方程式(1)：ATR＝PAOM/(PAOM+OM)确定所述多个岩石样品的最大表观转化率ATR，其中所述PAOM和OM在(b)中确定；
(d)针对在(b)中获得的至少三个数据点，对所述PAOM与所述PHIT和所述TOC的比率进行曲线拟合以生成数学函数方程式或其交叉图(2)中的至少一个；
(e)确定沿着所述井或地层的测井井筒或岩芯样品的长度的位置的样品的总孔隙度PHIT和有机质OM含量TOC；
(f)使用所述数学函数方程式或交叉图(2)计算所述测井井筒或岩芯样品的所述样品的第一PAOM，所述数学函数方程式或交叉图(2)使用(e)中确定的所述总孔隙度PHIT和所述有机质OM含量TOC生成；
(g)使用方程式(3)：PAOM＝ATR×OM/(1-ATR)计算所述测井井筒或岩芯样品的所述样品的第二PAOM，其中所述ATR在(c)中确定并且所述OM在(e)中确定；
(h)将(f)中计算的所述第一PAOM与(g)中计算的所述第二PAOM进行比较；以及
(i)选择计算的所述第一PAOM，除非所述第一PAOM大于所述第二PAOM，其中选择所述第二PAOM。
2.根据权利要求1所述的方法，其中所述井或地层包括页岩。
3.根据权利要求1所述的方法，其中(a)中的所述多个岩石样品是整个岩芯、侧壁岩芯、钻屑或露头采石样品。
4.根据权利要求1所述的方法，其中(b)中的所述确定与有机质相关联的孔隙度PAOM、总孔隙度PHIT和有机质OM含量TOC包括：将所述SEM图像分割为有机质和孔隙度，并且确定与由固体颗粒界定的孔隙度的数量相比的由有机材料界定的孔隙度的数量。
5.根据权利要求1所述的方法，其中(e)中的所述确定总孔隙度PHIT和有机质OM含量TOC包括从测井数据解释PHIT和TOC。
6.根据权利要求1所述的方法，其中(e)中的所述确定总孔隙度PHIT和有机质OM含量TOC包括根据x射线CT扫描和光谱伽马测井数据计算PHIT和TOC。
7.一种用于评估井或地层的生产潜力的方法，其包括：
(a)获得从井或地层获得的多个岩石样品的扫描电子显微镜SEM或聚焦离子束FIB-SEM图像；
(b)根据所述SEM或FIB-SEM图像确定与有机质相关联的孔隙度PAOM、总孔隙度PHIT和有机质OM含量TOC；
(c)使用方程式(1)：ATR＝PAOM/(PAOM+OM)确定所述多个岩石样品的最大表观转化率ATR，其中所述PAOM和OM在(b)中确定；
(d)针对在(b)中获得的至少三个数据点，对所述PAOM与所述PHIT和所述TOC的比率进行曲线拟合以生成数学函数方程式或其交叉图(2)中的至少一个；
(e)确定沿着所述井或地层的测井井筒或岩芯样品的长度的位置的样品的总孔隙度PHIT和有机质OM含量TOC；
(f)使用所述数学函数方程式或交叉图(2)计算所述测井井筒或岩芯样品的所述样品的第一PAOM，所述数学函数方程式或交叉图(2)使用(e)中确定的所述总孔隙度PHIT和所述有机质OM含量TOC生成；
(g)使用方程式(3)：PAOM＝ATR×OM/(1-ATR)计算所述测井井筒或岩芯样品的所述样品的第二PAOM，其中所述ATR在(c)中确定并且所述OM在(e)中确定；
(h)将(f)中计算的所述第一PAOM与(g)中计算的所述第二PAOM进行比较；以及
(i)选择计算的所述第一PAOM，除非所述第一PAOM大于所述第二PAOM，其中选择所述第二PAOM；以及
(j)至少部分地基于(i)中选择的所述第一或第二PAOM评估所述井或地层的所述生产潜力。
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