[发明专利]用于定量光谱的频率配准偏差的重构有效

专利信息
申请号: 201680045279.2 申请日: 2016-08-03
公开(公告)号: CN107923794B 公开(公告)日: 2020-11-10
发明(设计)人: 阿尔弗雷德·菲提施;刘翔;凯文·卢德卢姆;马蒂亚斯·施里姆佩尔 申请(专利权)人: 光谱传感器公司
主分类号: G01J3/10 分类号: G01J3/10;G01J3/28;G01N21/3504;G01J3/42;G01J3/433;G01N21/27;G01J3/02
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 张焕生;戚传江
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 在由光谱分析系统进行的频率或波长范围扫描期间发生的频率配准偏差可以使用被动和/或主动方法来校正。被动的方法可以包括确定数学转换并将其应用于记录的现场光谱。主动方法可以包括修改光谱分析系统的一个或多个操作参数以减小频率配准偏差。
搜索关键词: 用于 定量 光谱 频率 偏差
【主权项】:
一种方法,包括:表征光谱分析系统的频率配准偏差,所述表征包括记录指示所述光谱分析系统的光源相对于所述光谱分析系统的校准状态的一个或多个变化的现场校准光谱;导出转换函数,所述转换函数包括用于减小相对于所述光谱分析系统的校准状态的所述频率配准偏差的至少一个数学运算;转换利用所述光谱分析系统对包含样品流体的现场样品记录的现场光谱,所述转换包括把所述转换函数应用于所述现场光谱以产生转换的现场光谱数据,该转换的现场光谱数据包括与所述光谱分析系统的校正的频率响应配准的光谱数据;以及使用所述转换的现场光谱数据来计算下述的一个或多个:所述现场样品的压力,所述现场样品的温度,以及所述现场样品中的一个或多个分析物的浓度。
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