[发明专利]搭载二次电池的芯片的制造方法在审

专利信息
申请号: 201680045200.6 申请日: 2016-06-20
公开(公告)号: CN107851610A 公开(公告)日: 2018-03-27
发明(设计)人: 津国和之;井上龙雄;斋藤友和;小笠原树里;殿川孝司;工藤拓夫 申请(专利权)人: 日本麦可罗尼克斯股份有限公司
主分类号: H01L21/822 分类号: H01L21/822;H01L21/8234;H01L27/04;H01L27/06
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司11243 代理人: 金鲜英,陈彦
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 提供一种能够在多个芯片上同时且均匀地制造氧化物半导体二次电池的制造方法。其为在电路上层叠有层叠第一电极(52)、充电功能层(54、56、58)和第二电极(60)而成的氧化物半导体二次电池的芯片的制造方法,具备层叠工序,其相对于对应于形成于晶片(20)上的多个芯片22的各芯片(22)的区域不是单个地形成氧化物半导体二次电池、而是相对于对应于多个芯片(22)的区域一体地层叠并形成氧化物半导体二次电池;以及,分割工序,其相对于一体地形成的氧化物半导体二次电池,进行保留对应于各芯片(22)的区域、除去不对应于各芯片(22)的其它区域的图案蚀刻,从而分隔为对应于各芯片(22)的单个氧化物半导体二次电池(50‑1、50‑2)。
搜索关键词: 搭载 二次 电池 芯片 制造 方法
【主权项】:
一种搭载有氧化物半导体二次电池的芯片的制造方法,其为在电路上层叠有层叠第一电极、充电功能层和第二电极而构成的氧化物半导体二次电池的芯片的制造方法,其特征在于,具备:层叠工序,相对于对应于形成于晶片上的多个芯片的各芯片的区域不是单个地形成氧化物半导体二次电池、而是相对于对应于所述多个芯片的区域一体地层叠并形成氧化物半导体二次电池;以及,分割工序,相对于一体地形成的所述氧化物半导体二次电池,进行保留对应于所述各芯片的区域、除去不对应于所述各芯片的其它区域的图案蚀刻,分割为对应于所述各芯片的单个氧化物半导体二次电池。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于日本麦可罗尼克斯股份有限公司,未经日本麦可罗尼克斯股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201680045200.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top