[发明专利]电子部件的检查装置以及检查方法有效

专利信息
申请号: 201680042075.3 申请日: 2016-06-30
公开(公告)号: CN108291934B 公开(公告)日: 2021-04-06
发明(设计)人: 朝仓秀树;藤田建豪;菅野晶夫;前泽信明 申请(专利权)人: 株式会社村田制作所;株式会社东京威尔斯
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 舒艳君;李洋
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供一种电子部件的检查装置以及检查方法。具备:检查室(20),检查电子部件(W);搬运机构(22),设置于检查室(20)内,进行搬运以便被供给至检查室(20)的电子部件(W)被检查;第一干燥气体供给部(50),向检查室(20)内的搬运机构(22)的一侧的第一空间(S1)供给干燥气体;第二干燥气体供给部(52),向检查室(20)内的搬运机构(22)的另一侧的第二空间(S2)供给干燥气体,第一空间(S1)具有第二空间(S2)以上的大小,第二干燥气体供给部(52)的干燥气体供给压力比第一干燥气体供给部(50)的干燥气体供给压力大。
搜索关键词: 电子 部件 检查 装置 以及 方法
【主权项】:
暂无信息
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