[发明专利]粒子计数仪器中的激光器噪声检测和缓解有效
| 申请号: | 201680030793.9 | 申请日: | 2016-04-01 |
| 公开(公告)号: | CN107615043B | 公开(公告)日: | 2020-08-18 |
| 发明(设计)人: | J·伦普金;M·梅尔顿 | 申请(专利权)人: | 粒子监测系统有限公司 |
| 主分类号: | G01N15/14 | 分类号: | G01N15/14;G01N21/64 |
| 代理公司: | 北京汇知杰知识产权代理有限公司 11587 | 代理人: | 吴焕芳;蔡伦 |
| 地址: | 美国科*** | 国省代码: | 暂无信息 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | 本发明涉及光学粒子计数器和能够有效区分开由粒子光散射所产生的信号和噪声源的方法。例如,本发明的实施方案使用多传感器检测器配置用于识别和区分开对应于激光强度波动的信号和对应于粒子光散射的信号以检测和表征亚微米粒子。例如,在一种实施方案中,本发明的方法和系统比较来自检测器阵列的不同检测器元件的信号,以识别和表征噪声事件,比如由激光强度不稳定性而产生的噪声,从而允许检测和表征较小的粒子。因此,本发明的系统和方法提供了减少由噪声或干扰引起的误报同时允许非常灵敏的粒子检测的有效手段。 | ||
| 搜索关键词: | 粒子 计数 仪器 中的 激光器 噪声 检测 缓解 | ||
【主权项】:
一种用于检测流体流中的粒子的方法,所述方法包括以下步骤:提供具有所述粒子的所述流体流;将所述流体流暴露于来自激光器的电磁辐射束,由此产生散射或发射的电磁辐射;收集来自观察区域的所述散射或发射的电磁辐射并将所述散射或发射的电磁辐射引导到多个检测器元件上;其中,每个检测器元件被定位成接收来自所述观察区域的不同部分的所述散射或发射的电磁辐射;检测被引导到所述多个检测器元件上的所述电磁辐射,其中,每个所述检测器元件生成独立的输出信号;比较来自至少两个不同的检测器元件的输出信号,以区分出对应于激光器噪声事件的输出信号和对应于粒子检测事件的输出信号;和分析对应于所述检测事件的输出信号,从而检测所述流体流中的所述粒子。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于粒子监测系统有限公司,未经粒子监测系统有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201680030793.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:硬度计
- 下一篇:植物用波长传感器装置





