[发明专利]粒子计数仪器中的激光器噪声检测和缓解

权利要求书

1.一种用于检测流体流中的粒子的方法，所述方法包括以下步骤：

提供具有所述粒子的所述流体流；

将所述流体流暴露于来自激光器的电磁辐射束，由此产生散射或发射的电磁辐射；

收集来自观察区域的所述散射或发射的电磁辐射并将所述散射或发射的电磁辐射引导到多个检测器元件上；其中，每个检测器元件被定位成接收来自所述观察区域的不同部分的所述散射或发射的电磁辐射；

检测被引导到所述多个检测器元件上的所述电磁辐射，其中，每个所述检测器元件生成独立的输出信号；

比较来自至少两个不同的检测器元件的输出信号，以区分出对应于激光器噪声事件的输出信号和对应于粒子检测事件的输出信号；

分析对应于所述检测事件的输出信号；和

识别所述激光器噪声事件，

其中，当至少两个不相邻的检测器元件中的每一个的输出信号独立地等于或大于阈值时，所述激光器噪声事件被识别；

从而检测所述流体流中的所述粒子。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述检测器元件中的至少两个的所述输出信号的幅度的增加指示所述激光器噪声事件。

3.根据权利要求1至2中任一项所述的方法，其中，仅仅单个检测器元件或相邻检测器元件的一子集的所述输出信号的幅度的增加指示所述粒子检测事件。

4.根据权利要求1至2中任一项所述的方法，其中，收集和引导来自所述观察区域的所述散射或发射的电磁辐射的所述步骤是使用用于将来自所述观察区域的所述散射或发射的电磁辐射聚焦到所述多个检测器元件上的光学系统提供的。

5.根据权利要求4所述的方法，其中，所述光学系统和/或所述检测器元件的实际尺寸、位置或所述实际尺寸和位置两者使得所述多个检测器元件中的检测器元件的仅一子集接收对应于所述粒子检测事件的所述散射或发射的电磁辐射。

6.根据权利要求4所述的方法，其中，所述光学系统和/或所述检测器元件的实际尺寸、位置或所述实际尺寸和位置两者使得所述多个检测器元件中的所有检测器元件都接收对应于所述激光器噪声事件的所述散射或发射的电磁辐射。

7.根据权利要求4所述的方法，其中，所述多个检测器包括定位成与所述光学系统光通信的检测器阵列，使得所述阵列的每个元件接收来自所述观察区域的不同部分的散射或发射的电磁辐射。

8.根据权利要求7所述的方法，其中，所述检测器阵列是包括2至20个检测器元件的一维阵列。

9.根据权利要求8所述的方法，其中，所述一维阵列的每个所述检测器元件独立地具有以从410μm到440μm的范围中选择的横向尺寸为特征的工作区域。

10.根据权利要求8至9中任一项所述的方法，其中，所述一维阵列的相邻检测器元件以从60μm到90μm的范围中选择的距离彼此分隔开。

11.根据权利要求1至2中任一项所述的方法，其中，所述激光器是固态激光器或二极管激光器。

12.根据权利要求1至2中任一项所述的方法，其中，所述激光器噪声事件对应于所述激光器的辐射输出的变化，从而产生具有基本一致的空间强度分布的来自所述观察区域的所述散射或发射的电磁辐射。

13.根据权利要求1至2中的任一项所述的方法，其中，所述粒子检测事件对应于粒子穿过电磁辐射束，从而产生具有不一致的空间强度分布的来自所述观察区域的所述散射或发射的电磁辐射。

14.根据权利要求13所述的方法，其中，比较来自至少两个不同的检测器元件的输出信号的所述步骤包括表征所述散射或发射的电磁辐射的空间强度分布，以区分出对应于粒子检测事件的输出信号和对应于激光器噪声事件的输出信号。