[发明专利]自动分析装置有效
| 申请号： | 201680012622.3 | 申请日： | 2016-02-05 |
| 公开（公告）号： | CN107407686B | 公开（公告）日： | 2021-03-23 |
| 发明（设计）人： | 中野俊郎 | 申请（专利权）人： | 株式会社日立高新技术 |
| 主分类号： | G01N35/00 | 分类号： | G01N35/00 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 范胜杰;金慧善 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 具备分析部，其进行分析处理，该分析处理是对分析对象的检体进行分析的处理；存储部，其针对检体的每个分析项目，存储分析处理的结果、分析处理中的分析条件等分析参数的登记/变更/删除等事件的发生所相关的累积信息以及作为用于检体的分析的试剂的信息的试剂信息的登记/删除/更换等事件的发生所相关的累积信息；以及显示部，其显示所述检体的分析结果以及与事件的发生状况相关的信息等，控制检体的由分析部进行的分析处理的动作，并且从存储部读取分析参数的事件的信息和所述试剂信息的事件的信息，以时间序列显示于显示部。由此，通过提高发生检体测量结果的数据异常等某种不良时的不良调查所涉及的各种信息的检索容易性或视觉辨认性，可以缩短不良的调查/分析所需要的时间和提高可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 自动 分析 装置 | ||
【主权项】：
一种自动分析装置，其特征在于，该自动分析装置具备：分析部，其进行分析处理，该分析处理是对分析对象的检体进行分析的处理；存储部，其针对所述检体的每个分析项目，存储所述分析处理的结果、所述分析处理中的分析条件等分析参数的登记/变更/删除等事件的发生所相关的累积信息以及用于所述检体的分析的试剂的信息即试剂信息的登记/删除/更换等事件的发生所相关的累积信息；显示部，其显示所述检体的分析结果以及与事件的发生状况相关的信息等；以及控制部，其控制所述检体的由分析部进行的分析处理的动作，并且从所述存储部读取所述分析参数的事件的信息以及所述试剂信息的事件的信息，以时间序列显示于所述显示部。
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