[发明专利]自动分析装置有效
| 申请号: | 201680012622.3 | 申请日: | 2016-02-05 |
| 公开(公告)号: | CN107407686B | 公开(公告)日: | 2021-03-23 |
| 发明(设计)人: | 中野俊郎 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立高新技术 |
| 主分类号: | G01N35/00 | 分类号: | G01N35/00 |
| 代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 范胜杰;金慧善 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 自动 分析 装置 | ||
1.一种自动分析装置,其特征在于,
该自动分析装置具备:
分析部,其进行分析处理,该分析处理是对分析对象的检体进行分析的处理;
存储部,其针对所述检体的每个分析项目,存储所述分析处理的结果、所述分析处理中的分析条件这些分析参数的登记/变更/删除这些事件的发生所相关的累积信息、用于所述检体的分析的试剂的信息的试剂信息的登记/删除/更换这些事件的发生所相关的累积信息、用于所述检体的分析处理的试剂的校准结果的生成/编辑/继承/删除这些事件的发生所相关的累积信息以及用于所述检体的分析处理的试剂的精度管理信息的生成这些事件的发生所相关的累积信息;
显示部,其显示所述检体的分析结果以及与事件的发生状况相关的信息;以及
控制部,其控制所述检体的由分析部进行的分析处理的动作,并且从所述存储部读取所述分析参数的事件的信息、所述试剂信息的事件的信息、所述校准结果的事件的信息以及所述精度管理信息的事件的信息,以时间序列显示于所述显示部,
所述控制部在所述显示部中在设定成与所述事件的发生时间相关的轴和与所述事件的发生顺序相关的轴垂直的平面上,配置所述分析参数的事件的信息和所述试剂信息的事件的信息的信息,并用线将有关连的信息连接,
所述控制部能够过滤所述分析参数、所述试剂信息、所述校准结果、所述精度管理信息这些信息的种类、或在登记/变更/删除/更换这些事件中显示于所述显示部的信息,
所述显示部具备设定部,该设定部设定所述分析参数、所述试剂信息、用于所述检体的分析处理的试剂的校准结果、以及用于所述检体的分析处理的试剂的精度管理信息的所述事件的显示期间范围。
2.根据权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
所述存储部还存储用于所述检体的分析处理的试剂的精度管理信息的生成这些事件的发生所相关的累积信息,
所述控制部将所述精度管理信息的事件的信息与所述分析参数的事件的信息以及所述试剂信息的事件的信息一并,以时间序列显示于所述显示部。
3.根据权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
在通过用于进行所述显示部上的操作的光标选择了显示于所述显示部的所述分析参数的登记/变更/删除或用于所述检体的分析处理的试剂的校准结果的生成/编辑/继承/删除各事件的情况下,在显示部上显示各事件的内容的详细信息。
4.根据权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
在通过用于进行所述显示部上的操作的光标选择了显示于所述显示部的所述分析参数的登记/变更/删除或校准结果的生成/编辑/继承/删除各事件的情况下,在显示部上弹出显示各事件的内容的详细信息。
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