[实用新型]测试电路有效
| 申请号： | 201621447145.7 | 申请日： | 2016-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN207396987U | 公开（公告）日： | 2018-05-22 |
| 发明（设计）人： | A·康特;E·卡斯塔尔多;R·A·比安基;F·拉罗萨 | 申请（专利权）人： | 意法半导体（克洛尔2）公司;意法半导体(鲁塞)公司;意法半导体股份有限公司 |
| 主分类号： | G04F13/00 | 分类号： | G04F13/00 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 王茂华;吕世磊 |
| 地址： | 法国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： |
一种测试电路(19)，包括用于测量时间间隔的电荷保持电路级(1)，电荷保持电路级设置有：存储电容器(2)，连接在第一偏置端子(3a)与浮置节点(4)之间；以及放电元件(6)，连接在浮置节点(4)与参考端子(7)之间，用于通过穿过对应的电介质的泄漏对存储在存储电容器中的电荷放电。测试电路设想：偏置级(24)，用于将浮置节点偏置处于读取电压(V |
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| 搜索关键词： | 测试 电路 | ||
【主权项】：
1.一种测试电路(19)，其特征在于，包括用于测量时间间隔的电荷保持电路级(1)，所述电荷保持电路级设置有：存储电容器(2)，连接在第一偏置端子(3a)与浮置节点(4)之间；以及放电元件(6)，连接在所述浮置节点(4)与参考端子(7)之间，并且设计成实施通过穿过对应的电介质的泄漏对存储在所述存储电容器(2)中的电荷放电，其中所述测试电路(19)包括：偏置级(24)，配置成将所述浮置节点偏置处于读取电压(VL )；检测级(30，32)，配置成检测所述读取电压(VL )的所述偏置值(VL (t0 ))；以及积分器级，包括耦合至所述浮置节点(4)的测试电容器(28)，被配置成实施对所述放电元件(6)中的放电电流(iL )与保持恒定处于所述偏置值(VL (t0 ))的所述读取电压(VL )的积分运算，以及确定根据所述积分运算变化的所述放电元件(6)的有效电阻值RL '。
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