[实用新型]测试电路有效

专利信息
申请号: 201621447145.7 申请日: 2016-12-27
公开(公告)号: CN207396987U 公开(公告)日: 2018-05-22
发明(设计)人: A·康特;E·卡斯塔尔多;R·A·比安基;F·拉罗萨 申请(专利权)人: 意法半导体(克洛尔2)公司;意法半导体(鲁塞)公司;意法半导体股份有限公司
主分类号: G04F13/00 分类号: G04F13/00
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 王茂华;吕世磊
地址: 法国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 测试 电路
【权利要求书】:

1.一种测试电路(19),其特征在于,包括用于测量时间间隔的电荷保持电路级(1),所述电荷保持电路级设置有:

存储电容器(2),连接在第一偏置端子(3a)与浮置节点(4)之间;以及

放电元件(6),连接在所述浮置节点(4)与参考端子(7)之间,并且设计成实施通过穿过对应的电介质的泄漏对存储在所述存储电容器(2)中的电荷放电,

其中所述测试电路(19)包括:

偏置级(24),配置成将所述浮置节点偏置处于读取电压(VL);

检测级(30,32),配置成检测所述读取电压(VL)的所述偏置值(VL(t0));以及

积分器级,包括耦合至所述浮置节点(4)的测试电容器(28),被配置成实施对所述放电元件(6)中的放电电流(iL)与保持恒定处于所述偏置值(VL(t0))的所述读取电压(VL)的积分运算,以及确定根据所述积分运算变化的所述放电元件(6)的有效电阻值RL'。

2.根据权利要求1所述的测试电路,其特征在于,所述积分器级包括运算放大器(20),所述运算放大器具有:第一输入端子(20a),连接至所述浮置节点(4)并且设计成接收所述读取电压(VL);第二输入端子(20b),设计成接收比较参考电压(Vx),所述比较参考电压的值Vx(t0)在所述积分运算期间被保持恒定处于所述偏置值(VL(t0));以及输出端子(20c),设计成在其上供应输出电压(Vout);其中所述测试电容器(28)在所述积分运算期间被选择性地连接在所述第一输入端子(20a)与所述输出端子(20c)之间。

3.根据权利要求2所述的测试电路,其特征在于,所述输出电压(Vout)在所述积分运算期间在测量时间间隔ΔT中具有电压变化ΔVout,并且所述有效电阻值RL'根据如下表达式是所述电压变化ΔVout、所述测量时间间隔ΔT、所述比较参考电压(Vx)的值Vx(t0) 和所述测试电容器(28)的电容值CT的函数:

4.根据权利要求2或3所述的测试电路,其特征在于,所述检测级包括:控制单元(30);和参考变化级(32),耦合至所述控制单元(30)并由所述控制单元(30)控制,以用于使供应至作为比较器操作的所述运算放大器(20)的所述第二输入端子(20b)的所述比较参考电压(Vx)的值迭代地变化;其中,在切换所述运算放大器(20)的所述输出电压(Vout)时,所述比较参考电压(Vx)的值Vx(t0)对应于所述偏置值(VL(t0))。

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