[实用新型]光学检测系统有效

专利信息
申请号: 201621422111.2 申请日: 2016-12-23
公开(公告)号: CN206369707U 公开(公告)日: 2017-08-01
发明(设计)人: 李彦志;陈文生 申请(专利权)人: 联策科技股份有限公司
主分类号: G01N21/958 分类号: G01N21/958
代理公司: 北京汇信合知识产权代理有限公司11335 代理人: 赵倩
地址: 中国台湾桃园*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 实用新型公开了一种光学检测系统,用以检测一面板的瑕疵或异物,该面板上贴有一偏光片,且该偏光片上面贴有一保护膜,该光学检测系统包含一摄影装置,朝向该面板的保护膜拍摄一第一影像与一第二影像;一系统偏光片,配置于该摄影装置与该面板之间;以及一偏光旋转装置,保持该系统偏光片平行该面板的偏光片,且可旋转该系统偏光片位于一第一角度刻度与一第二角度刻度,其中该第一角度刻度与该第二角度刻度相差九十度;其中,该摄影装置在该系统偏光片位于该第一角度刻度时拍摄该第一影像,且在该系统偏光片位于该第二角度刻度时拍摄该第二影像,该第一影像与该第二影像作影像相减处理,以检出该偏光片下的瑕疵或异物。
搜索关键词: 光学 检测 系统
【主权项】:
一种光学检测系统,用以检测一面板的瑕疵或异物,所述面板上贴有一偏光片,且所述偏光片上面贴有一保护膜,其特征在于,该光学检测系统包含:一摄影装置,朝向所述面板的保护膜拍摄一第一影像与一第二影像;一系统偏光片,配置于所述摄影装置与所述面板之间;以及一偏光旋转装置,保持所述系统偏光片平行所述面板的偏光片,且可旋转所述系统偏光片位于一第一角度刻度与一第二角度刻度,其中所述第一角度刻度与所述第二角度刻度相差九十度;其中,所述摄影装置在所述系统偏光片位于所述第一角度刻度时拍摄所述第一影像,且在所述系统偏光片位于所述第二角度刻度时拍摄所述第二影像,所述第一影像与所述第二影像作影像相减处理,以检出所述偏光片下的瑕疵或异物。
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