[实用新型]光学检测系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种光学检测系统，更明确地说，本实用新型是一种检出面板上的瑕疵或异物的光学检测系统。

背景技术

现行面板厂商在检出偏光片下的异物时，一般偏光片表面都会贴有保护层。由于在偏光片出货前，偏光片厂商会先单独检测偏光片是否有瑕疵，并确认偏光片无瑕疵之后，再将保护膜贴合在偏光片上出货给面板厂商。面板厂商拿偏光片去贴合面板时，有时会因为厂内机台问题，造成偏光片贴合时异物会掉落在面板上，之后偏光片与面板贴合后，将使得异物介于偏光片与面板间，造成损失良率。

由于偏光片与保护膜是贴合在一起，所以面板厂商的检测设备必须厘清哪些缺陷是在保护膜上而不用视为异物检出。因为消费者使用产品前会撕掉保护膜，不会造成产品的损失。但面板厂商在检测时，却很难把保护膜的瑕疵与偏光片和面板间的瑕疵或异物分辨清楚。

一种现有技术利用保护膜与偏光片的厚度差，再利用光学系统聚焦景深差异，分辨出哪一个厚度的缺陷，但保护膜与偏光片的厚度都很薄，造成该现有技术误判的机会很高；另一种现有技术利用不同的光源打光方式，希望可以区分出保护膜与偏光片的差异，但效果都不是很好。

所以目前机器视觉检测是将保护膜撕开以后，直接检测偏光片与面板表面，是否有瑕疵与异物存在，此机器视觉检测方式固然可行，但必须在检测完毕后，须再将保护膜贴回偏光片，且需要贴的美观，会花费在贴合机台或人工处理，而耗损时间与金钱。

本实用新型若能提供一种光学检测系统，能够排除贴在偏光片上保护膜的瑕疵与异物，而准确检出偏光片下而位在面板上的瑕疵或异物，将具有产业的实用性。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了排除贴在偏光片上保护膜的瑕疵与异物，并检出偏光片下而位在面板上的瑕疵或异物，而提供一种光学检测系统。

本实用新型的另一目的是为了利用一可旋转的系统偏光片配合待检测面板的一偏光片，基于相位差90度的影像比较以检出待检测面板上的瑕疵或异物，而提供一种光学检测系统。

达到上述本实用新型其中之一目的的一种光学检测系统，用以检测一面板的瑕疵或异物，该面板上贴有一偏光片，且该偏光片上面贴有一保护膜，该光学检测系统包含：一摄影装置，朝向该面板的保护膜拍摄一第一影像与一第二影像；一系统偏光片，配置于该摄影装置与该面板之间；以及一偏光旋转装置，保持该系统偏光片平行该面板的偏光片，且可旋转该系统偏光片位于一第一角度刻度与一第二角度刻度，其中该第一角度刻度与该第二角度刻度相差九十度；其中，该摄影装置在该系统偏光片位于该第一角度刻度时拍摄该第一影像，且在该系统偏光片位于该第二角度刻度时拍摄该第二影像，该第一影像与该第二影像作影像相减处理，以检出该偏光片下的瑕疵或异物。

其中，该摄影装置拍摄该第一影像时，系统偏光片与该面板的偏光片的相位差等于0度，该摄影装置拍摄该第二影像时，系统偏光片与该面板的偏光片的相位差等于90度。

其中，本实用新型光学检测系统进一步包含一图像处理设备，该图像处理设备从该摄影装置接收该第一影像与该第二影像，且执行影像相减处理，以检出该偏光片下的瑕疵或异物。

达到本实用新型目的的光学检测系统可适用于有偏光片的光电产业，如TFT-LCD，OLED等，能够排除贴在偏光片上保护膜的瑕疵与异物，而检出偏光片下而位在面板上的瑕疵或异物，进而有效率的改善检出良率。

附图说明

图1为本实用新型光学检测系统的系统架构图；

图2为本实用新型光学检测系统检出的第一影像图与第二影像图。

符号说明：

2摄影装置

4系统偏光片

5偏光旋转装置

6辅助光源

8图像处理设备

10 光学检测系统

12 面板

14 偏光片

16 保护膜

21 面板的瑕疵或异物

22 保护膜的瑕疵或异物

具体实施方式

如图1所示，显示本实用新型光学检测系统的系统架构图。本实用新型的较佳实施例利用两偏光片间光学特性的作用原理，两偏光片同相位或相位差＝0度时，光线可以穿过两偏光片，但如果两偏光片的相位差＝90度时，光线会无法穿过。