[实用新型]一种用于PCB测试的长针高密治具有效
| 申请号： | 201621401877.2 | 申请日： | 2016-12-20 |
| 公开（公告）号： | CN206497180U | 公开（公告）日： | 2017-09-15 |
| 发明（设计）人： | 陈春霞 | 申请（专利权）人： | 惠州市齐嘉电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/073 |
| 代理公司： | 北京国昊天诚知识产权代理有限公司11315 | 代理人： | 许志勇 |
| 地址： | 516255 广东省惠州市惠城*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请提供一种用于PCB测试的长针高密治具，其包括承载座、穿针座及多根测试针，穿针座设置于所述承载座，并具有多个穿针通道，每一个穿针通道相对于垂直线倾斜，每一个穿针通道与垂直线间的夹角为6度；多根测试针分别穿设于对应的穿针通道，每一根测试针相对于垂直线倾斜，每一根测试针与垂直线间的夹角为6度，其长度为58毫米，并分别对应PCB的多个测试点。本申请的长针高密治具因测试针的倾斜角度小，PCB对多根测试针的压力小，避免多根测试针受到压伤。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 pcb 测试 高密 | ||
【主权项】：
一种用于PCB测试的长针高密治具，其特征在于，包括：承载座；穿针座，其设置于所述承载座，并具有多个穿针通道，每一个穿针通道相对于垂直线倾斜，每一个穿针通道与所述垂直线间的夹角为6度；以及多根测试针，其分别穿设于对应的穿针通道，每一根测试针相对于所述垂直线倾斜，每一根测试针与所述垂直线间的夹角为6度，其长度为58毫米，并分别对应PCB的多个测试点。
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