[实用新型]一种用于PCB测试的长针高密治具

权利要求书

1.一种用于PCB测试的长针高密治具，其特征在于，包括：

承载座；

穿针座，其设置于所述承载座，并具有多个穿针通道，每一个穿针通道相对于垂直线倾斜，每一个穿针通道与所述垂直线间的夹角为6度；以及

多根测试针，其分别穿设于对应的穿针通道，每一根测试针相对于所述垂直线倾斜，每一根测试针与所述垂直线间的夹角为6度，其长度为58毫米，并分别对应PCB的多个测试点。

2.根据权利要求1所述的长针高密治具，其特征在于，所述穿针座包括第一固定板、第二固定板、多个调节板及多个固定结构，所述第一固定板设置于所述承载座，所述第二固定板与所述第一固定板相对，所述多个调节板间隔设置于所述第一固定板与第二固定板间，每一个固定结构穿设所述多个调节板，并固定于所述第一固定板及第二固定板，所述第一固定板、第二固定板及多个调节板分别具有多个穿孔，所述多个穿孔形成多个穿针通道。

3.根据权利要求2所述的长针高密治具，其特征在于，所述多个固定结构分别包括多个间隔环及连接柱，所述多个间隔环设置于所述多个调节板间，所述连接柱穿过多个调节板及多个间隔环，其两端分别固定于所述第一固定板及第二固定板。

4.根据权利要求1所述的长针高密治具，其特征在于，所述承载座包括底板、承载板组及多个支撑铜柱，所述承载板组设置于所述底板的上方，所述多个支撑铜柱设置于所述底板与承载板组间。