[实用新型]一种智能卡并联双位测试装置有效
| 申请号： | 201621333466.4 | 申请日： | 2016-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN206362837U | 公开（公告）日： | 2017-07-28 |
| 发明（设计）人： | 周宗涛 | 申请（专利权）人： | 诺得卡（上海）微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/073 | 分类号： | G01R1/073;G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海兆丰知识产权代理事务所(有限合伙)31241 | 代理人： | 黄美英 |
| 地址： | 上海市闵行区浦星路78*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种智能卡并联双位测试装置，包括用于放置智能卡的下模以及用于对智能卡进行测试的上模，所述上模的底部设有测试头，所述测试头上设有两排测试针排，每排测试针排由若干测试针组组成；每个测试针组由至少两根测试针组成。本实用新型的智能卡并联双位测试装置，在每个智能卡模块的触点上均设有至少两根测试针，对于M3模块，有6个触点，至少需要有12(6*2)根测试针，对于M2/M4模块，有8个触点，至少需要有16(8＊2)根测试针。采用多测试针系统的测试头装置，可以有效避免单根测试针由于受到粉尘干扰引起的误判，并可避免单根测试针由于疲劳、形变失效造成的误判，从而保证了长时间、少误测的大量智能卡模块产品的生产顺利进行，提升产品合格率，降低生产成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 智能卡 并联 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种智能卡并联双位测试装置，包括用于放置智能卡的下模以及用于对智能卡进行测试的上模，所述上模的底部设有测试头，其特征在于：所述测试头上设有两排测试针排，每排测试针排由若干测试针组组成；每个测试针组由至少两根测试针组成。
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