[实用新型]一种智能卡并联双位测试装置有效
| 申请号： | 201621333466.4 | 申请日： | 2016-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN206362837U | 公开（公告）日： | 2017-07-28 |
| 发明（设计）人： | 周宗涛 | 申请（专利权）人： | 诺得卡（上海）微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/073 | 分类号： | G01R1/073;G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海兆丰知识产权代理事务所(有限合伙)31241 | 代理人： | 黄美英 |
| 地址： | 上海市闵行区浦星路78*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 智能卡 并联 测试 装置 | ||
【权利要求书】：
1.一种智能卡并联双位测试装置，包括用于放置智能卡的下模以及用于对智能卡进行测试的上模，所述上模的底部设有测试头，其特征在于：
所述测试头上设有两排测试针排，每排测试针排由若干测试针组组成；每个测试针组由至少两根测试针组成。
2.根据权利要求1所述的一种智能卡并联双位测试装置，其特征在于，对于M3智能卡模块，每排所述测试针排由三个测试针组组成。
3.根据权利要求1所述的一种智能卡并联双位测试装置，其特征在于，对于M2/M4智能卡模块，每排所述测试针排由四个测试针组组成。
4.根据权利要求1所述的一种智能卡并联双位测试装置，其特征在于，每组所述测试针组的每根测试针均相互并联的接入智能卡并联双位测试装置中。
5.根据权利要求1所述的一种智能卡并联双位测试装置，其特征在于，每组所述测试针组的位置均位于相对于ISO/IEC 10373标准触点测试针的位置。
6.根据权利要求1所述的一种智能卡并联双位测试装置，其特征在于，每组所述测试针组的每根测试针距离待测智能卡的高度均相同。
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