[实用新型]电子设备开关机老化测试装置有效
| 申请号： | 201621246721.1 | 申请日： | 2016-11-16 |
| 公开（公告）号： | CN206411199U | 公开（公告）日： | 2017-08-15 |
| 发明（设计）人： | 张娉婷 | 申请（专利权）人： | 上海移为通信技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 上海翰信知识产权代理事务所(普通合伙)31270 | 代理人： | 张维东 |
| 地址： | 200233 上海市闵*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型提供了一种电子设备开关机老化测试装置，因为第一电源与被测设备组成回路，继电器串联在回路的主电路上，测试单元的输出口与被测电子设备的开关机键的管脚连接，控制部与测试单元连接，控制部能够将控制信号发送给主控芯片，主控芯片根据控制信号控制继电器的通或断从而控制电源是否对被测设备供电，主控芯片根据控制信号控制被测设备开机或关机，从而能够自动对被测设备进行老化测试，并且由于各个部件的价格均比较便宜，所以，本实用新型的电子设备开关机老化测试装置不仅成本低廉、效率高，而且节省劳动力。 | ||
| 搜索关键词： | 电子设备 开关机 老化 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种电子设备开关机老化测试装置，其特征在于，包括：至少一个测试部，包含：第一电源、以及测试单元，所述第一电源用于为被测电子设备提供电能，与所述被测电子设备连接组成回路；所述测试单元包含：第二电源、与所述第二电源相连接的主控芯片、以及与所述主控芯片相连接且串联在所述回路中的继电器；以及控制部，与每个所述测试单元的输入端相连接，用于设定各种控制参数，向所述主控芯片发送控制信号，其中，所述测试单元的输出端与所述被测电子设备的开关机键管脚相连接，所述控制部向每个所述主控芯片发出所述控制信号，所述主控芯片根据所述控制信号控制所述继电器闭合或断开，从而控制所述回路的闭合或断开，从而对所述被测电子设备断电或供电，控制所述测试部的输出口输出高电平或者低电平，从而控制所述被测电子设备的开机和关机。
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