[实用新型]电子设备开关机老化测试装置有效
| 申请号: | 201621246721.1 | 申请日: | 2016-11-16 |
| 公开(公告)号: | CN206411199U | 公开(公告)日: | 2017-08-15 |
| 发明(设计)人: | 张娉婷 | 申请(专利权)人: | 上海移为通信技术股份有限公司 |
| 主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
| 代理公司: | 上海翰信知识产权代理事务所(普通合伙)31270 | 代理人: | 张维东 |
| 地址: | 200233 上海市闵*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 电子设备 开关机 老化 测试 装置 | ||
1.一种电子设备开关机老化测试装置,其特征在于,包括:
至少一个测试部,包含:第一电源、以及测试单元,所述第一电源用于为被测电子设备提供电能,与所述被测电子设备连接组成回路;所述测试单元包含:第二电源、与所述第二电源相连接的主控芯片、以及与所述主控芯片相连接且串联在所述回路中的继电器;以及
控制部,与每个所述测试单元的输入端相连接,用于设定各种控制参数,向所述主控芯片发送控制信号,
其中,所述测试单元的输出端与所述被测电子设备的开关机键管脚相连接,
所述控制部向每个所述主控芯片发出所述控制信号,所述主控芯片根据所述控制信号控制所述继电器闭合或断开,从而控制所述回路的闭合或断开,从而对所述被测电子设备断电或供电,控制所述测试部的输出口输出高电平或者低电平,从而控制所述被测电子设备的开机和关机。
2.根据权利要求1所述的电子设备开关机老化测试装置,其特征在于:
其中,所述控制部为PC终端或者笔记本电脑。
3.根据权利要求1所述的电子设备开关机老化测试装置,其特征在于:
其中,所述被测电子设备至少为1台,所述被测电子设备并联连接。
4.根据权利要求1所述的电子设备开关机老化测试装置,其特征在于:
其中,所述控制部设置有至少一个串行接口,不同的串行接口能够同时发送不同的控制信号,所述测试单元的输入端为串行接口,所述控制部的一个串行接口与一个所述测试单元的串行接口通过一对传输线连接。
5.根据权利要求1所述的电子设备开关机老化测试装置,其特征在于:
其中,所述测试单元的输出端为GPIO端口。
6.根据权利要求1所述的电子设备开关机老化测试装置,其特征在于:
其中,所述控制信号包含的至少一条控制命令,所述控制参数包含:每条所述控制命令的参数、每条所述控制命令之间发送的时间间隔、循环次数,所述控制命令的参数包含:继电器闭合或断开的时间、开机时间、开机时按键保持时间、关机时间、关机时按键保持时间。
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