[发明专利]热电离飞行时间质谱测定硼同位素的分析装置及方法在审
| 申请号： | 201611259227.3 | 申请日： | 2016-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN108267497A | 公开（公告）日： | 2018-07-10 |
| 发明（设计）人： | 谢胜凯;郭冬发;谭靖;刘桂方;范增伟;胡勇;丁楠 | 申请（专利权）人： | 核工业北京地质研究院 |
| 主分类号： | G01N27/62 | 分类号： | G01N27/62 |
| 代理公司： | 核工业专利中心 11007 | 代理人： | 高尚梅 |
| 地址： | 100029 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明属于质谱分析测试技术领域，具体涉及一种热电离飞行时间质谱测定硼同位素的分析装置及方法。本发明中，热电离离子源与静电透镜之间设有闸板阀，热电离离子源产生的离子通过闸板阀后通过静电透镜进行聚焦，聚焦后的离子在加在推斥板上的脉冲电压的作用下进行偏转进入加速区，然后离子按照图中虚线所示经过无场漂移区等最终到达检测器；当推斥板上无电压时离子直接被法拉第杯接收；加速电压的下方为无场漂移区，检测器与加速电压并列位于无场漂移区上方，检测器上设有检测高压电路；无场漂移区的下方为栅极电压，栅极电压的下方为反射电压。本发明能够快速、准确测定硼同位素丰度，同时监测杂质元素信息。 | ||
| 搜索关键词： | 漂移区 热电 无场 检测器 离子 硼同位素 飞行时间质谱 分析装置 加速电压 静电透镜 栅极电压 推斥板 闸板阀 子源 聚焦 偏转 测试技术领域 法拉第杯 反射电压 高压电路 脉冲电压 杂质元素 质谱分析 加速区 丰度 并列 监测 检测 | ||
【主权项】：
1.一种热电离飞行时间质谱测定硼同位素的分析装置，其特征在于：包括热电离离子源(1)、闸板阀(2)、静电透镜(3)、推斥板(4)、法拉第杯(5)、加速电压(6)、无场漂移区(7)、栅极电压(8)、反射电压(9)、检测器(10)、检测高压电路(11)；热电离离子源(1)与静电透镜(3)之间设有闸板阀(2)，热电离离子源(1)产生的离子通过闸板阀(2)后通过静电透镜(3)进行聚焦，聚焦后的离子在加在推斥板(4)上的脉冲电压的作用下进行偏转进入加速区，然后离子按照图中虚线所示经过无场漂移区(7)等最终到达检测器(10)；当推斥板(4)上无电压时离子直接被法拉第杯(5)接收；加速电压(6)的下方为无场漂移区(7)，检测器(10)与加速电压(6)并列位于无场漂移区(7)上方，检测器(10)上设有检测高压电路(11)；无场漂移区(7)的下方为栅极电压(8)，栅极电压(8)的下方为反射电压(9)。
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