[发明专利]热电离飞行时间质谱测定硼同位素的分析装置及方法

权利要求书

1.一种热电离飞行时间质谱测定硼同位素的分析装置，其特征在于：包括热电离离子源(1)、闸板阀(2)、静电透镜(3)、推斥板(4)、法拉第杯(5)、加速电压(6)、无场漂移区(7)、栅极电压(8)、反射电压(9)、检测器(10)、检测高压电路(11)；热电离离子源(1)与静电透镜(3)之间设有闸板阀(2)，热电离离子源(1)产生的离子通过闸板阀(2)后通过静电透镜(3)进行聚焦，聚焦后的离子在加在推斥板(4)上的脉冲电压的作用下进行偏转进入加速区，然后离子按照图中虚线所示经过无场漂移区(7)等最终到达检测器(10)；当推斥板(4)上无电压时离子直接被法拉第杯(5)接收；加速电压(6)的下方为无场漂移区(7)，检测器(10)与加速电压(6)并列位于无场漂移区(7)上方，检测器(10)上设有检测高压电路(11)；无场漂移区(7)的下方为栅极电压(8)，栅极电压(8)的下方为反射电压(9)。

2.根据权利要求1所述的一种热电离飞行时间质谱测定硼同位素的分析装置，其特征在于：所述热电离离子源(1)包括上边带(12)、中间带(13)、下边带(14)、接线柱(15)、Re带(16)、基座(17)、出口狭缝(18)；上边带(12)、中间带(13)、下边带(14)分别通过螺钉固定在基座(17)上的(3)个凹槽内，Re带(16)通过焊接固定在(2)个接线柱(15)上基座(17)的另一端与出口狭缝(18)连接。

3.一种热电离飞行时间质谱测定硼同位素的分析方法，其特征在于：包括如下步骤：

步骤一、样品准备：将被测样品放置于热电离离子源(1)中的中间带(13)上，低温烘干后装入仪器中；

步骤二、仪器准备：将热电离离子源(1)腔中预抽真空，打开闸板阀(2)，打开仪器电源，预热稳定仪器，设定仪器各电压的参数；

步骤三、仪器测量：仪器真空度到达平衡后可以开始测量，调整中间带(13)电流，持续检测被测样品所产生的信号强度；

步骤四、数据处理：对步骤三所产生的信号进行处理。

4.根据权利要求3所述的一种热电离飞行时间质谱测定硼同位素的分析方法，其特征在于：所述步骤一中，被测样品放入中间带(13)上前，在中间带(13)上焊上金属铼带，用1A电流加热铼带除气。

5.根据权利要求3所述的一种热电离飞行时间质谱测定硼同位素的分析方法，其特征在于：所述步骤二中，热电离离子源(1)腔中预抽真空的真空度为小于10^-4Pa。