[发明专利]对位装置和对位方法有效
| 申请号： | 201611257673.0 | 申请日： | 2016-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN108269282B | 公开（公告）日： | 2021-10-22 |
| 发明（设计）人： | 范纲伦;孟宪明;孙武雄;廖祝湘;张基霖 | 申请（专利权）人： | 技嘉科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/70 | 分类号： | G06T7/70;G01N21/956 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人： | 梁挥;祁建国 |
| 地址： | 中国台湾*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种对位装置和对位方法。上述对位装置包括一储存装置、一影像撷取装置以及一处理器。上述储存装置储存多组预设参考点信息。上述影像撷取装置撷取多个影像，其中每一上述影像分别对应一待测电路板之不同区块以及上述多组预设参考点信息的一组。上述处理器耦接至上述储存装置和上述影像撷取装置，且上述处理器，在每一上述影像中选取一第一候选参考点，并根据上述第一候选参考点以及上述预设参考点信息，找寻匹配上述第一候选参考点的全部其他候选参考点，以产生对应每一上述影像的一对位信息。 | ||
| 搜索关键词： | 对位 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种对位装置，其特征在于，包括：一储存装置，储存多组预设参考点信息；一影像撷取装置，撷取多个影像，其中每一上述影像分别对应一待测电路板的不同区块以及上述多组预设参考点信息的一组；以及一处理器，耦接至上述储存装置和上述影像撷取装置，且上述处理器，在每一上述影像中选取一第一候选参考点，并根据上述第一候选参考点以及上述预设参考点信息，找寻匹配上述第一候选参考点的全部其他候选参考点，以产生对应每一上述影像的一对位信息。
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