[发明专利]对位装置和对位方法

权利要求书

1.一种对位装置，其特征在于，包括：

一储存装置，储存多组预设参考点信息；

一影像撷取装置，撷取多个影像，其中每一所述影像分别对应一待测电路板的不同区块以及所述多组预设参考点信息的一组；以及

一处理器，耦接至所述储存装置和所述影像撷取装置，且所述处理器，在每一所述影像中选取一第一候选参考点，并根据所述第一候选参考点以及所述预设参考点信息，找寻匹配所述第一候选参考点的全部其他候选参考点，以产生对应每一所述影像的一对位信息；

其中，所述预设参考点信息包含多个预设参考点的坐标信息，以及所述多个预设参考点彼此的向量和角度关系，且其中所述多个预设参考点分别对应所述候选参考点，且其中所述处理器根据所述第一候选参考点以及所述向量和角度关系，找寻匹配所述第一候选参考点的所述其他候选参考点。

2.根据权利要求1所述的对位装置，其特征在于，所述处理器根据一霍夫转换方法，在每一所述影像中找到多个参考点，且根据所述预设参考点信息，从所述多个参考点选取所述第一候选参考点。

3.根据权利要求2所述的对位装置，其特征在于，所述处理器根据所述预设参考点信息，从所述多个参考点中选取包含在每一所述影像的一特定区域的一第一部分的多个参考点，以及从所述第一部分的多个参考点选取所述第一候选参考点，其中所述其他候选参考点不包括于所述第一部分的多个参考点中。

4.根据权利要求3所述的对位装置，其特征在于，当所述第一候选参考点与所述其他候选参考点的一者匹配失败时，所述处理器从所述第一部分的多个参考点选取一新的第一候选参考点，并找寻匹配所述新的第一候选参考点的其他候选参考点。

5.根据权利要求3所述的对位装置，其特征在于，当所述第一候选参考点与全部所述其他候选参考点匹配成功，所述处理器根据所述预设参考点信息以及所述第一候选参考点和所述其他候选参考点，产生对应每一所述影像的所述对位信息，并将所述对位信息储存在所述储存装置。

6.根据权利要求1-5任意一项所述的对位装置，其特征在于，所述储存装置更储存一坐标文件信息，其中所述坐标文件信息包含所述待测电路板上的多个元件对应的多个坐标。

7.一种对位方法，其特征在于，包括：

撷取多个影像，其中每一所述影像分别对应一待测电路板的不同区块；

在每一所述影像中，选取一第一候选参考点；

根据所述第一候选参考点以及预先储存的预设参考点信息，找寻匹配所述第一候选参考点的全部其他候选参考点，以产生对应每一所述影像的一对位信息，其中所述预设参考点信息包含多个预设参考点的坐标信息，以及所述多个预设参考点彼此的向量和角度关系，且其中所述多个预设参考点分别对应所述候选参考点；以及

根据所述第一候选参考点以及所述向量和角度关系，找寻是否有匹配所述第一候选参考点的所述其他候选参考点。

8.根据权利要求7所述的对位方法，其特征在于，更包括：

根据一霍夫转换方法，在每一所述影像中找到多个参考点，且根据所述预设参考点信息，从所述多个参考点选取所述第一候选参考点。

9.根据权利要求8所述的对位方法，其特征在于，更包括：

根据所述预设参考点信息，从所述多个参考点中选取包含在每一所述影像的一特定区域的一第一部分的多个参考点，以及从所述第一部分的多个参考点选取所述第一候选参考点，其中所述其他候选参考点不包括于所述第一部分的多个参考点中。

10.根据权利要求9所述的对位方法，其特征在于，更包括：

当所述第一候选参考点与所述其他候选参考点的一者匹配失败时，从所述第一部分的多个参考点选取一新的第一候选参考点；以及

找寻匹配所述新的第一候选参考点的其他候选参考点。