[发明专利]基于加速性能退化参数的LED集成驱动电源可靠性分析方法在审

专利信息
申请号: 201611235962.0 申请日: 2016-12-28
公开(公告)号: CN107238765A 公开(公告)日: 2017-10-10
发明(设计)人: 孙强;荆雷;田彦涛;高群;栗阳 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R31/40;G06F17/50
代理公司: 长春菁华专利商标代理事务所(普通合伙)22210 代理人: 李青
地址: 130033 吉*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 发明涉及一种加速退化试验领域的可靠性分析方法,具体涉及一种在基于光通量的LED整灯寿命周期内对LED集成驱动电源进行基于加速退化电参数的可靠性分析的方法。其目的在于利用电参数对LED集成驱动电源进行可靠性分析,以得出驱动电源对整灯寿命的影响结果。针对驱动电源的可靠性研究,也多是从设计角度出发。本发明为了解决集成驱动电源在LED整灯寿命周期内的可靠性分析问题,基于加速退化电参数建立基于Wiener过程的统计模型,并结合极大似然估计法和MCMC法进行模型参数辨识。通过改进辨识方法得出,改进的辨识方法在较好地保证辨识精度的前提下,降低了样本需求。最后在基于光通量的LED整灯寿命约束下,给出LED集成驱动电源在整灯寿命周期内的可靠性指标。
搜索关键词: 基于 加速 性能 退化 参数 led 集成 驱动 电源 可靠性分析 方法
【主权项】:
基于加速性能退化参数的LED集成驱动电源可靠性分析方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤一,根据对LED集成驱动电源的加速寿命试验方案,确定应力施加方式、应力施加类型、应力施加强度、单应力或多应力;加入LED光通量老化试验作为辅助试验;步骤二,记录试验样本的输入输出参数,包括:输出电流、输出电压、输出功率、输入电流和输入电压;在辅助试验中,记录同型号同批次样本的光通量衰减情况;步骤三,利用基于Sperman相关系数的Daniel检验方法对长期记录数据变化趋势进行分析,同时结合各强度单应力施加条件下的短时记录数据选择性能退化参数;步骤四,为了获得LED集成驱动电源的可靠性指标,建立基于加速退化电参数的Wiener过程统计模型;根据具体实验设计选择合理的辅助模型,包括对应温度应力的阿伦尼乌斯模型,Bayes寿命分布模型;并给出基本假定,然后对假定进行检验;依据实验数据和所建模型,运用极大似然估计法和马尔科夫链蒙特卡洛方法(MCMC),对模型中的待定系数进行估计;步骤五,利用基于加速退化电参数的Wiener过程统计模型进行可靠性分析,获取LED整灯寿命周期特征指标,计算LED集成驱动电源的失效概。
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