[发明专利]基于加速性能退化参数的LED集成驱动电源可靠性分析方法

权利要求书

1.基于加速性能退化参数的LED集成驱动电源可靠性分析方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤一，根据对LED集成驱动电源的加速寿命试验方案，确定应力施加方式、应力施加类型、应力施加强度、单应力或多应力；加入LED光通量老化试验作为辅助试验；

步骤二，记录试验样本的输入输出参数，包括：输出电流、输出电压、输出功率、输入电流和输入电压；在辅助试验中，记录同型号同批次样本的光通量衰减情况；

步骤三，利用基于Sperman相关系数的Daniel检验方法对长期记录数据变化趋势进行分析，同时结合各强度单应力施加条件下的短时记录数据选择性能退化参数；

步骤四，为了获得LED集成驱动电源的可靠性指标，建立基于加速退化电参数的Wiener过程统计模型；根据具体实验设计选择合理的辅助模型，包括对应温度应力的阿伦尼乌斯模型，Bayes寿命分布模型；并给出基本假定，然后对假定进行检验；依据实验数据和所建模型，运用极大似然估计法和马尔科夫链蒙特卡洛方法(MCMC)，对模型中的待定系数进行估计；

步骤五，利用基于加速退化电参数的Wiener过程统计模型进行可靠性分析，获取LED整灯寿命周期特征指标，计算LED集成驱动电源的失效概。

2.根据权利要求1所述的基于加速性能退化参数的LED集成驱动电源可靠性分析方法，其特征在于，所述步骤四的基于加速退化电参数的LED集成驱动电源可靠性建模分析算法具体步骤如下：

步骤A，根据分布预测，选择分布模型并进行分布检验；

步骤B，基于Wiener过程建立统计模型；

步骤C，利用极大似然估计法进行模型参数辨识；

步骤D，改进辨识方法，结合极大似然估计和MCMC方法；

步骤E，模型改进，建立分布参数与应力之间的关系。

3.根据权利要求1所述的基于加速性能退化参数的LED集成驱动电源可靠性分析方法，其特征在于，步骤二所述并非通过记录某个分立元器件的性能参数来表征整个LED集成驱动电源的当前工作状态，而是将与整灯直接关联的板级输入输出参数划入筛选参数范畴。

4.根据权利要求1所述的基于加速性能退化参数的LED集成驱动电源可靠性分析方法，其特征在于，步骤三所述的参数的选择从短时多强度应力和长时单强度应力两个角度出发，利用基于Sperman相关系数的Daniel检验方法对实际试验数据的总体趋势进行验证；对于时间序列样本X₁,X₂,…,X_n，记X_t的秩为R_t＝R(X_t)，考虑变量对(t,R_t)，t＝1,2,…,n的Sperman相关系数构造统计量进行假设检验。这样的数据选择方法具有理论支撑，较仿真方法更具有说服力。

5.根据权利要求2所述的基于加速性能退化参数的LED集成驱动电源可靠性分析方法，其特征在于，所述的步骤B分布检验时，利用单样本Kolmogorov-Smirnov检验，观察D_max＝max|S_n(x)-F₀(x)|，其中S_n(x)为经验分布函数，F₀(x)为理论分布函数。根据给定的显著水平α和样本数据个数n，确定临界值D_α，然后通过比较D_max和D_α大小确定是否拒绝原假设。