[发明专利]一种基于片上嵌入式微系统的SIP模块测试方法

摘要

一种基于片上嵌入式微系统的SIP模块测试方法，首先利用SIP模块内部的CPU单元，对所有存储器单元的全部地址进行读写操作，以测试存储器单元的正确性；然后对SIP模块内部CPU单元进行内部封闭自测试和外部辅助测试，以验证CPU单元的正确性；最后通过内部CPU单元和外部FPGA对SIP模块内部FPGA进行测试。本发明方法在不提高SIP模块设计复杂度的基础上，有效的对SIP模块功能、内部互联进行测试，最大程度上满足了SIP模块全测试覆盖的需求，在保证SIP模块正确性的基础上，提高了测试效率。

主权项

1.一种基于片上嵌入式微系统的SIP模块测试方法，其特征在于包括下列步骤：(1)利用SIP模块的CPU单元，对所有存储器单元的全部地址进行读写操作，以测试存储器单元的正确性；(2)对SIP模块CPU单元进行内部封闭自测试和外部辅助测试，以验证CPU单元的正确性；(3)对SIP模块内部FPGA进行以下测试：通过外部FPGA向SIP模块内部FPGA输入时钟，并通过外部FPGA查看内部FPGA的lock信号是否锁定，以测试内部FPGA工作频率的正确性；采用MARCH C算法，通过CPU单元，向内部FPGA的可配置RAM的全部地址进行读写操作，以测试可配置RAM的正确性；晶振提供输入频率，内部FPGA进行不同程度的倍频，通过外部PPGA查看内部FPGA的Lock信号，分别验证低频模式和高频模式下内部FPGA是否正常工作，以测试延时锁相环的正确性。