[发明专利]一种基于改进弦测法的轨检仪轨向不平顺度测量方法有效

专利信息
申请号: 201611119869.3 申请日: 2016-12-08
公开(公告)号: CN106595561B 公开(公告)日: 2019-01-01
发明(设计)人: 张航;吴永健;周忠林;林海昕 申请(专利权)人: 中南大学
主分类号: G01B21/30 分类号: G01B21/30;B61K9/08
代理公司: 长沙市融智专利事务所 43114 代理人: 杨萍
地址: 410083 湖南*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明公开了一种基于改进弦测法的轨检仪轨向不平顺度测量方法,包括以下步骤:首先,输入里程对应的n个轨道基本弦轨向测量值,其对应的弦记为(Ai‑2,Ai);以弦(A0,A2)所在直线为X轴,A0为原点,垂直X轴向下为Y轴建立直角坐标系;然后,计算线段(Ai‑2,Ai)与X轴的夹角θ(i);再计算A0,A1,…,An的坐标值,并计算线段(A0,An)所在直线的方程;最后求出点An/2到上述直线的距离,即为轨道M米弦轨向不平顺度。本发明不易因测量得到的小误差而积累更大的误差,且在非圆曲线的轨道上计算轨向值也可以获得较为理想的结果。
搜索关键词: 一种 基于 改进 弦测法 轨检仪轨 平顺 测量方法
【主权项】:
1.一种基于改进弦测法的轨检仪轨向不平顺度测量方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1:根据轨检仪每次测量的步长T,计算测量轨道M米弦轨向不平顺度所需的采样点数n=M/T,n为偶数;输入里程对应的n个轨道基本弦轨向测量值序列{h(1),h(2),…,h(i),…,h(n)};其对应的弦分别为线段(A0,A2),(A1,A3),…,(Ai‑1,Ai+1),…,(An‑1,An+1);A0和An+1分别为测量的起始点和结束点;线段(Ai,Ai+2)的长度等于轨检仪的双轮粱弦长T'=2T;以线段(A0,A2)所在直线为X轴,A0为原点,垂直X轴向下为Y轴建立直角坐标系;记点Ai的坐标为(X[i],Y[i]);步骤2:利用数学模型的几何关系,结合轨道基本弦轨向测量值,计算线段(Ai‑2,Ai)与X轴的夹角θ(i),具体通过以下递推公式计算:步骤3:计算A0,A1,…,An的坐标值;首先根据步骤1中直角坐标系的建立方法获得起始点A0、A1和A2的坐标分别为(X[0]=0,Y[0]=0)、(X[1]=T,Y[1]=‑h(1))和(X[2]=2T,Y[2]=0);再利用所述步骤2得到的θ(i)计算出Ai的坐标(X[i],Y[i]),i=3,4,…,n,计算公式如下所示:步骤4:根据A0和An的坐标值,计算线段(A0,An)与X轴的夹角θ',从而得到线段(A0,An)所在直线的方程;θ'根据以下公式进行计算:θ'=arctan((Y[n]‑Y[0])/(X[n]‑X[0]))由此,得出线段(A0,An)所在直线的方程为y=xtanθ';步骤5:根据点到直线的距离公式,求出点An/2到直线y=xtanθ'的距离Gn/2,即为轨道M米弦轨向不平顺度:
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