[发明专利]一种用于ESD保护的双向纵向NPN结构有效
| 申请号: | 201611077363.0 | 申请日: | 2016-11-30 |
| 公开(公告)号: | CN106653745B | 公开(公告)日: | 2019-01-08 |
| 发明(设计)人: | 蔡小五;魏俊秀;高哲;梁超;刘兴辉;翟丽蓉;吕川;闫明 | 申请(专利权)人: | 辽宁大学 |
| 主分类号: | H01L27/02 | 分类号: | H01L27/02;H01L27/06;H01L29/732;H01L29/06 |
| 代理公司: | 沈阳杰克知识产权代理有限公司 21207 | 代理人: | 郑贤明 |
| 地址: | 110000 辽宁*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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| 摘要: | 一种用于ESD保护的双向纵向NPN结构,包括有P型衬底,其结构为:在P型衬底上设有DNW阱,在DNW阱两边设有NWell阱,中间设有PWell阱;一侧的NWell阱上部向上依次设有PESD区域和第一N+注入区,另一侧的NWell阱上部向上依次设有PESD区域和第二N+注入区;PWell阱上部,在PESD区域和第一N+注入区与PESD区域和第二N+注入区之间,设有STI区域。本发明通过上述结构,提供了一种用于ESD保护的双向纵向NPN结构,且不需要增加额外的二极管,减小了版图面积。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 用于 esd 保护 双向 纵向 npn 结构 | ||
【主权项】:
1.一种用于ESD保护的双向纵向NPN结构,包括有P型衬底(1),其特征在于:在P型衬底上设有DNW阱(2),在DNW阱(2)两边设有NWell阱(3),中间设有PWell阱(4);一侧的NWell阱(3)上部向上依次设有PESD区域(5)和第一N+注入区(6),另一侧的NWell阱(3)上部向上依次设有PESD区域(5)和第二N+注入区(7);PWell阱(4)上部,在PESD区域(5)和第一N+注入区(6)与PESD区域(5)和第二N+注入区(7)之间,设有STI区域(8);所述的PESD区域(5)是一层P型ESD注入层,用于减小NPN的触发电压。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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