[发明专利]阻变式存储器及其制造方法有效
申请号: | 201611074755.1 | 申请日: | 2016-11-30 |
公开(公告)号: | CN108123031B | 公开(公告)日: | 2021-12-28 |
发明(设计)人: | 汪昌州;刘继全 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司 |
主分类号: | H01L45/00 | 分类号: | H01L45/00 |
代理公司: | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人: | 曲瑞 |
地址: | 201203 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种阻变式存储器及其制造方法。该制造方法包括:提供底部互连层;在所述底部互连层上形成底部电介质层,所述底部电介质层具有露出所述底部互连层的通孔;以及在所述通孔中形成底部电极层,所述底部电极层包括在所述底部互连层上选择性生长的第一电极。本发明中,底部电极层具有比较好的通孔填充能力。 | ||
搜索关键词: | 阻变式 存储器 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种阻变式存储器的制造方法,其特征在于,包括:提供底部互连层;在所述底部互连层上形成底部电介质层,所述底部电介质层具有露出所述底部互连层的通孔;以及在所述通孔中形成底部电极层,所述底部电极层包括在所述底部互连层上选择性生长的第一电极。
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