[发明专利]一种基于成像系统特性的X射线相位成像方法有效
| 申请号: | 201611055301.X | 申请日: | 2016-11-25 |
| 公开(公告)号: | CN106596594B | 公开(公告)日: | 2018-12-21 |
| 发明(设计)人: | 周仲兴;高峰;赵会娟;张力新;郭柏宽 | 申请(专利权)人: | 天津大学 |
| 主分类号: | G01N23/04 | 分类号: | G01N23/04;G01N23/083 |
| 代理公司: | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人: | 程毓英 |
| 地址: | 300072*** | 国省代码: | 天津;12 |
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| 摘要: | 本发明公开一种基于成像系统特性的X射线相位成像方法,包括:设置X射线类同轴相衬成像参数和数字放射成像系统的曝光参数,在待成像的物平面位置放置刀口器具,采集获得刀口图像,从图像中获取不同位置的刀口截面曲线,计算二维点扩散函数。放置成像物体,对物体成像。根据物体组成的先验信息以及所得图像的噪声情况,计算松弛松弛因子的初始值。计算物体的相位信息。根据所得结果的对比度,微调松弛因子,直到获得理想结果。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 基于 成像 系统 特性 射线 相位 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于成像系统特性的X射线相位成像方法,包括下列步骤:①设置X射线类同轴相衬成像参数:设定光源到物体的距离,并设定物体到探测器的距离d;②设置数字放射成像系统的曝光参数,在待成像的物平面位置放置刀口器具,采集获得刀口图像,从图像中获取不同位置的刀口截面曲线,而后将刀口截面曲线进行平均,再对平均曲线求导数,获得对应的表征系统特性的线扩散函数,将该线扩散函数在直角坐标系中旋转一周,计算得到二维点扩散函数PSF(x,y),(x,y)是探测器平面上的坐标位置;③放置成像物体,保持成像参数不变,对物体成像,获得成像结果Id(x,y);④根据物体组成的先验信息以及所得图像的噪声情况,计算松弛松弛因子α的初始值
其中λ为X射线的波长,δ为被成像物体的复折射率n=1‑δ+jβ中的相移部分,j为虚数单位,mu与复折射率n中的吸收因子β相关,
SNR为实际获得信号的信噪比;⑤计算g(I)函数,
其中Iin(x,y)选择无物体部分的X射线强度平均值;⑥利用公式
计算物体的相位信息,这里u,v为探测器平面所在直角坐标系下两个方向的空间频率,FT为傅里叶变换,FT‑1为傅里叶逆变换;⑦根据所得结果的对比度,微调松弛因子,直到获得理想结果。
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