[发明专利]一种基于成像系统特性的X射线相位成像方法有效

专利信息
申请号: 201611055301.X 申请日: 2016-11-25
公开(公告)号: CN106596594B 公开(公告)日: 2018-12-21
发明(设计)人: 周仲兴;高峰;赵会娟;张力新;郭柏宽 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04;G01N23/083
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人: 程毓英
地址: 300072*** 国省代码: 天津;12
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 基于 成像 系统 特性 射线 相位 方法
【说明书】:

发明公开一种基于成像系统特性的X射线相位成像方法,包括:设置X射线类同轴相衬成像参数和数字放射成像系统的曝光参数,在待成像的物平面位置放置刀口器具,采集获得刀口图像,从图像中获取不同位置的刀口截面曲线,计算二维点扩散函数。放置成像物体,对物体成像。根据物体组成的先验信息以及所得图像的噪声情况,计算松弛松弛因子的初始值。计算物体的相位信息。根据所得结果的对比度,微调松弛因子,直到获得理想结果。

技术领域

本发明属于生物医学工程及医学影像学领域,涉及一种基于成像系统特性的X射线相位成像的方法。

背景技术

乳腺癌是当前妇女第一大“杀手”,据2015年最新统计数据,全世界乳腺癌患者人数和死亡人数在2012年分别增加至170万和52万,各占所有女性癌症病例的25%和癌症死亡数的15%[2]。我国人口众多,近年来乳腺癌患病率呈明显上升趋势,乳腺癌的诊治已经成为日益沉重并亟需解决的社会问题,而实现其早期诊断是解决这一社会问题、提高患者生存率和生活质量的关键。

当前乳腺常规检查的主要手段为钼(铑)靶X射线乳房成像术,然而长期临床实践表明,该技术在灵敏度,特异性,安全性和舒适性等方面均存在重大缺欠:一方面该技术存在高达10-15%的漏检率;另一方面由该技术诊断为阳性而最终的活检确诊率为25-29%。尤其严重的是,由于年轻女性的乳房过于致密,导致诊断准确性严重降低。

直到上世纪末,X射线相位衬度成像理论(X-ray phase contrast imaging,XPCI)的提出,打破了传统的X射线成像理念,为实现理想的早期乳腺癌解剖成像诊断技术带来了新的曙光。研究表明,在相同辐射剂量下,相衬成像的衬度分辨率较之传统X线吸收衬度成像提高10倍左右,显著提高了软组织成像的图像可见度。在当前可用的X射线相衬成像技术中,类同轴相衬成像技术由于不需要引入额外的光学装置,成像光路设计相对简单稳定,被认为是当前条件下最适合实现临床医学应用转化的显微成像技术之一。

在类同轴相衬成像测量中,入射的X射线经过物体后,波面发生畸变,当畸变后的波面在继续传播到一定距离后,将和未发生畸变的波面重叠而发生干涉效应。这样,X光通过薄层弱吸收弱相移样本后,经过一定距离的自由传播,就能将相位改变信息转化成经调制后的强度信息通过像平面显示出来。类同轴相衬成像成像采用的采用菲涅耳近场衍射的系统参数设置,此时在像面上获得的衍射强度分布正比于相位改变量的Laplacian变换,并非直接反映的相位改变二维分布,所以要通过数学方法从得到的光强信息中获取相位分布信息,这种由强度测量来恢复物体相位信息问题的逆过程就是相位抽取。到目前为止,已经有很多学者开展了理想情况下类同轴相衬成像的相位抽取研究,取得了有价值的成果。

但迄今为止,X射线类同轴相衬成像在乳腺癌临床诊断上仍没有得到应用,大部分的研究是基于同步辐射源的类同轴相衬成像展开的,同步辐射源投资巨大,占地面积巨大,不利于临床应用推广。而实际工程可行的基于微焦点源的X射线相衬成像系统,由于其系统非理想性,相衬成像与理论结果存在差异,导致最终相位抽取结果并没有达到预期的结果。目前采用的各类类同轴相衬成像的相位抽取模型是建立在理想的成像系统和成像过程上,而对于实际系统中的引起成像质量恶化的因素没有充分考虑,更没有采取措施对成像结果中的恶化效应进行排除。虽然通过采用高亮度微焦斑X射线源以及高量子检测效率探测器可望在较大程度上改善上述问题,但在目前条件下,高性能X射线源及探测器尚处于研发阶段,即使这些设备得到了应用,成像质量恶化因素仍然无法完全排除。另外,如果引入高性能设备,势必造成系统成本提高,导致类同轴相衬成像的推广普及优势的极大削弱。

因此,当前制约同轴相衬成像技术在临床推广应用的关键问题主要体现在像系统方面,图像系统自身存在着缺陷,比如X光源并非理想点源,探测器性能受到自身分辨率及点扩散函数等因素的限制,系统存在各类有害噪声等。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于天津大学,未经天津大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201611055301.X/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top