[发明专利]同位素光谱分析系统的温控装置

摘要

本发明属于同位素红外光谱分析技术领域，具体涉及一种同位素光谱分析系统的温控装置，包括第一密封保温箱、第二密封保温箱、预热恒温箱及扰动装置；所述第一密封保温箱位于第二密封保温箱内部，第一密封保温箱和第二密封保温箱内充有氮气；样品池位于第一密封保温箱内，样品池的进气口与扰动装置的出气口连通，扰动装置的进气口与预热恒温箱的出气口连通；本发明的预热恒温箱能够在待测气体进入样品池前对待测气体进行预加热，扰动装置能够使待测气体的温度分配均匀，使其到达与样品池所在环境相同的恒温状态，避免待测气体在常温下注入样品池时会导致样品池内的温度产生波动，确保样品池保持精确的恒温状态，从而提高测量精度。

主权项

1.一种同位素光谱分析系统的温控装置，包括预热恒温箱(30)和温度控制器，其特征在于：还包括第一密封保温箱(10)、第二密封保温箱(20)及扰动装置(40)；所述第一密封保温箱(10)位于第二密封保温箱(20)内部，且第一密封保温箱(10)的外壁与第二密封保温箱(20)的内壁之间间隔设置，第一密封保温箱(10)和第二密封保温箱(20)内充有氮气；同位素光谱分析系统的样品池(50)位于第一密封保温箱(10)内，光谱仪(60)位于第一、第二密封保温箱(10、20)之间的夹层内；所述第一密封保温箱(10)上设有与样品池(50)的入光口和出光口相对的通光窗口(101)；所述第一密封保温箱(10)上设有用于对第一密封保温箱(10)内部空间进行加热和冷却的第一加热装置和第一制冷装置，所述第二密封保温箱(20)上设有用于对第二密封保温箱(20)与第一密封保温箱(10)之间的夹层空间进行加热和冷却的第二加热装置和第二制冷装置；样品池(50)的进气口通过进气管与第二密封保温箱(20)外部的扰动装置(40)的出气口(42)连通，扰动装置(40)的进气口(41)与预热恒温箱(30)的出气口连通，预热恒温箱(30)的进气口与待测气体输入管路连通；所述预热恒温箱(30)上设有用于对预热恒温箱(30)内部空间进行加热和冷却的预加热装置和预制冷装置，所述扰动装置(40)内具有多层相互间隔设置的扰动板，各扰动板上交错设置有气流通道，使各扰动板之间形成迂回状气路，所述扰动装置(40)的进气口(41)和出气口(42)分别位于该迂回状气路的两端；所述第一密封保温箱(10)、预热恒温箱(30)以及第一、第二密封保温箱(10、20)之间的夹层内均设有温度传感器，各温度传感器与温度控制器电连接，温度控制器与第一加热装置、第二加热装置、预加热装置、第一制冷装置、第二制冷装置、预制冷装置电连接。