[发明专利]同位素光谱分析系统的温控装置

权利要求书

1.一种同位素光谱分析系统的温控装置，包括预热恒温箱(30)和温度控制器，其特征在于：还包括第一密封保温箱(10)、第二密封保温箱(20)及扰动装置(40)；所述第一密封保温箱(10)位于第二密封保温箱(20)内部，且第一密封保温箱(10)的外壁与第二密封保温箱(20)的内壁之间间隔设置，第一密封保温箱(10)和第二密封保温箱(20)内充有氮气；同位素光谱分析系统的样品池(50)位于第一密封保温箱(10)内，光谱仪(60)位于第一、第二密封保温箱(10、20)之间的夹层内；所述第一密封保温箱(10)上设有与样品池(50)的入光口和出光口相对的通光窗口(101)；所述第一密封保温箱(10)上设有用于对第一密封保温箱(10)内部空间进行加热和冷却的第一加热装置和第一制冷装置，所述第二密封保温箱(20)上设有用于对第二密封保温箱(20)与第一密封保温箱(10)之间的夹层空间进行加热和冷却的第二加热装置和第二制冷装置；样品池(50)的进气口通过进气管与第二密封保温箱(20)外部的扰动装置(40)的出气口(42)连通，扰动装置(40)的进气口(41)与预热恒温箱(30)的出气口连通，预热恒温箱(30)的进气口与待测气体输入管路连通；

所述预热恒温箱(30)上设有用于对预热恒温箱(30)内部空间进行加热和冷却的预加热装置和预制冷装置，所述扰动装置(40)内具有多层相互间隔设置的扰动板，各扰动板上交错设置有气流通道，使各扰动板之间形成迂回状气路，所述扰动装置(40)的进气口(41)和出气口(42)分别位于该迂回状气路的两端；

所述第一密封保温箱(10)、预热恒温箱(30)以及第一、第二密封保温箱(10、20)之间的夹层内均设有温度传感器，各温度传感器与温度控制器电连接，温度控制器与第一加热装置、第二加热装置、预加热装置、第一制冷装置、第二制冷装置、预制冷装置电连接。

2.根据权利要求1所述的同位素光谱分析系统的温控装置，其特征在于：所述预加热装置包括预热恒温箱(30)外壁上覆盖的一层预加热网(32)，所述预制冷装置包括贴在预热恒温箱(30)内壁上的与半导体制冷堆相连的预降温贴膜(31)，所述预热恒温箱(30)的四个侧壁内侧设有四个预热风扇(33)，四个预热风扇(33)的出风口同时朝顺时针或逆时针方向设置，使预热风扇(33)同时转动时能够形成顺时针或逆时针的层流。

3.根据权利要求1所述的同位素光谱分析系统的温控装置，其特征在于：所述扰动装置(40)包括管壳，扰动装置(40)的进气口(41)和出气口(42)分别位于管壳两端，所述扰动板包括沿管壳轴线方向间隔布置的大小两种直径的圆形金属片(43、44)，两种圆形金属片(43、44)的板面均与管壳的轴线垂直，且两种圆形金属片(43、44)沿管壳轴线方向交替布置，其中大圆形金属片(43)的中心设有通气孔(431)，且大圆形金属片(43)的边缘与管壳内壁无缝结合，小圆形金属片(44)的边缘与管壳内壁之间间隔设置，所述两种圆形金属片(43、44)均固定在一根沿管壳轴线设置的螺纹杆(45)上。

4.根据权利要求3所述的同位素光谱分析系统的温控装置，其特征在于：扰动装置(40)内最靠近出气口(42)的一块圆形金属片与管壳上出气口所在的一侧端面之间设有纱棉(46)。

5.根据权利要求1所述的同位素光谱分析系统的温控装置，其特征在于：所述第一加热装置包括第一密封保温箱(10)内壁与样品池(50)外壁之间设置的第一加热网(12)，所述第一加热网(12)与第一密封保温箱(10)的内壁和样品池(50)的外壁之间均为间隔设置；所述第一制冷装置包括贴在第一密封保温箱(10)内壁上的与半导体制冷堆相连的第一降温贴膜(11)，所述第一密封保温箱(10)的四个侧壁内侧设有四个内循环风扇(13)，四个内循环风扇(13)的出风口同时朝顺时针或逆时针方向设置，使四个内循环风扇(13)同时转动时能够在第一密封保温箱(10)内壁与样品池(50)外壁之间形成顺时针或逆时针的层流。