[发明专利]一种短路开路测试方法及系统

摘要

本申请公开了一种短路开路测试方法及系统，短路测试单元用于对待测线路进行短路测试，确定待测线路的短路群个数；若待测线路的短路群个数为N(N≥2)，则进入待测线路开路测试过程；开路测试单元用于进行待测线路开路测试对第m短路群至第N短路群，将第m+1短路群至第N短路群做短路处理从而建立第m单点，对第m短路群与第m单点进行测试以确定第m短路群与第m单点的短路/开路关系。采用本发明的短路开路测试方法及系统，对于N个短路群，最少仅需N‑1次测试即可完成对整个短路群网络的开路测试要求，能够极大地减少测试次数，缩短测试时间，节省测试资源，提高工作效率。

主权项

一种短路开路测试方法，其特征在于，包括待测线路短路测试和待测线路开路测试：待测线路短路测试包括：对待测线路进行短路测试，确定待测线路的短路群个数；若所述待测线路的短路群个数为N，则所述待测线路包括第1短路群至第N短路群，则进入待测线路开路测试过程，其中，N≥2；待测线路开路测试包括：对第m短路群至第N短路群，将第m+1短路群至第N短路群做短路处理从而建立第m单点，对所述第m短路群与所述第m单点进行测试以确定所述第m短路群与所述第m单点的短路/开路关系，其中，1≤m＜N‑1；对第N‑1短路群至第N短路群，所述第N短路群为第N‑1单点，对所述第N‑1短路群与所述第N‑1单点进行测试以确定所述第N‑1短路群与所述第N‑1单点的短路/开路关系。