[发明专利]一种短路开路测试方法及系统

说明书

技术领域

本申请涉及电路测试领域，具体涉及一种短路开路测试方法及系统。

背景技术

短路开路测试(open/short test，OS测试，开短路测试)又叫continuity test或contact test，是一种非常快速发现芯片的各个引脚间是否有短路的测试方法，还能发现集成电路板中各点接触是否良好，探针卡或测试座是否有问题。短路开路测试的测试原理分open_short_to_VDD测试和open_short_to_VSS测试。

短路测试(即短路测试)主要用来检测在原理设计上相连的测试点是否正确的连接在一起；开路测试(即开路/断路测试)主要是用来检测在原理设计上本不相连的测试点之间是否断连。随着电子技术的发展，PCB(Printed Circuit Board，印制电路板，印刷线路板)制造行业正朝着高密度、高集成度的方向发展，现有技术采取点对点方案进行短路开路测试，即每一个当前测试点都要与其它短路群的所有的测试点进行开路测试，随着测试点的大量增多而显得冗长而又复杂。

发明内容

根据本发明的一方面，提供一种短路开路测试方法，包括如下过程：

待测线路短路测试：

对待测线路进行短路测试，确定待测线路的短路群个数；若待测线路的短路群个数为N，则待测线路包括第1短路群至第N短路群，则进入待测线路开路测试过程，其中，N≥2；

待测线路开路测试：

对第m短路群至第N短路群，将第m+1短路群至第N短路群做短路处理从而建立第m单点，对第m短路群与第m单点进行测试以确定第m短路群与第m单点的短路/开路关系，其中，1≤m＜N-1；

结束短路开路测试。

根据本发明的另一方面，提供一种短路开路测试系统，包括短路测试单元和开路测试单元；

短路测试单元用于对待测线路进行短路测试，确定待测线路的短路群个数；若待测线路的短路群个数为N，则待测线路包括第1至第N短路群，其中，N≥2；

开路测试单元用于根据短路测试单元的测试结果建立N-1个测试模块，N-1个测试模块为第一模块、第二模块…第N-1模块；

短路测试单元分别与第一模块至第N-1模块相连接；或者，短路测试单元与第一模块连接，第一模块至第N-1模块依次连接；

第m模块用于对第m短路群至第N短路群，将第m+1短路群至第N短路群做短路处理从而建立第m单点，对第m短路群与第m单点进行测试以确定第m短路群与第m单点的短路/开路关系，其中，1≤m＜N-1；

第N短路群为第N-1单点，第N-1模块用于对第N-1短路群与第N-1单点进行测试以确定第N-1短路群与第N-1单点的短路/开路关系。

采用本发明的短路开路测试方法及系统，对于N个短路群，最少仅需N-1次测试即可完成对整个短路群网络的开路测试要求，能够极大地减少测试次数，缩短测试时间，节省测试资源，提高工作效率。

附图说明

图1为实施例一的短路开路测试系统结构示意图；

图2为实施例一的短路开路测试方法流程示意图；

图3为实施例一的待测线路测试点示意图；

图4为实施例一的待测线路短路群示意图；

图5为实施例一的另一种待测线路测试点示意图；

图6为实施例一的另一种待测线路短路群示意图；

图7为实施例一的短路开路测试方法St201步骤示意图；

图8为实施例一的短路开路测试方法St202步骤示意图；

图9为实施例一的短路开路测试方法St203步骤示意图；

图10为实施例二的短路开路测试系统结构示意图。

具体实施方式

下面通过具体实施方式结合附图对本申请作进一步详细说明。

实施例一：

本实施例的短路开路测试方法尤其适用于治具测试行业，可以采用如图1所示的短路开路测试系统实现，短路开路测试系统包括短路测试单元10和开路测试单元20。

如图2所示为本实施例的短路开路测试方法流程图，具体过程如下：

St1、待测线路短路测试：

短路测试单元10对待测线路进行短路测试(即进行全短路测试)，确定待测线路的N个短路群个数，N≥2。