[发明专利]平板探测器与滤线栅的适配方法和设备及医疗成像系统有效
申请号: | 201611032685.3 | 申请日: | 2016-11-14 |
公开(公告)号: | CN108065944B | 公开(公告)日: | 2021-10-22 |
发明(设计)人: | 李莉 | 申请(专利权)人: | 上海西门子医疗器械有限公司 |
主分类号: | A61B6/00 | 分类号: | A61B6/00;A61B6/06 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 201318 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供一种平板探测器与滤线栅的适配方法和设备及医疗成像系统。该方法用于一平板探测器和滤线栅的组合,包括:采集经曝光的第一图像;获取平板探测器的基本信息;获取滤线栅的栅线理论频率;根据平板探测器的基本信息确定平板探测器的实际采样频率,根据栅线理论频率和平板探测器的实际采样频率计算滤线栅导致的第一图像中的栅线伪影的预估频率;以所述栅线伪影的预估频率为中心设定最大允许偏差区间;以及在最大允许偏差区间内查找栅线伪影所处的实际频率,并去除第一图像中的栅线伪影,得到第二图像。本发明能够针对不同的平板探测器和滤线栅的组合达到理想的栅线伪影去除效果。 | ||
搜索关键词: | 平板 探测器 滤线栅 配方 设备 医疗 成像 系统 | ||
【主权项】:
1.一种平板探测器与滤线栅的适配方法,用于一平板探测器和滤线栅的组合,该方法包括:a)采集经曝光的第一图像;b)获取所述平板探测器的基本信息;c)获取所述滤线栅的栅线理论频率fg ;d)根据所述平板探测器的基本信息确定所述平板探测器的实际采样频率fs ,根据所述栅线理论频率fg 和所述平板探测器的实际采样频率fs 计算所述滤线栅导致的所述第一图像中的栅线伪影的预估频率festimate ;e)以所述栅线伪影的预估频率festimate 为中心设定最大允许偏差区间;以及f)在所述最大允许偏差区间内查找所述栅线伪影所处的实际频率,并去除所述第一图像中的所述栅线伪影,得到第二图像。
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