[发明专利]平板探测器与滤线栅的适配方法和设备及医疗成像系统

说明书

本发明提供一种平板探测器与滤线栅的适配方法和设备及医疗成像系统。该方法用于一平板探测器和滤线栅的组合，包括：采集经曝光的第一图像；获取平板探测器的基本信息；获取滤线栅的栅线理论频率；根据平板探测器的基本信息确定平板探测器的实际采样频率，根据栅线理论频率和平板探测器的实际采样频率计算滤线栅导致的第一图像中的栅线伪影的预估频率；以所述栅线伪影的预估频率为中心设定最大允许偏差区间；以及在最大允许偏差区间内查找栅线伪影所处的实际频率，并去除第一图像中的栅线伪影，得到第二图像。本发明能够针对不同的平板探测器和滤线栅的组合达到理想的栅线伪影去除效果。

技术领域

本发明涉及图像处理领域，特别是一种平板探测器与滤线栅的适配方法和设备，并且还涉及一种医疗成像系统。

背景技术

滤线栅作为X射线成像诊断系统的一个关键部件，对去除散射线增加图像对比度起着决定性的作用。系统中常用的有高频静栅(高频静态滤线栅)和低频动栅(低频动态滤线栅)，由于高频静栅价格高、衰减大，低频动栅又会增加系统的复杂度等缺点，目前越来越多的产品将低频静态滤线栅应用到系统中，采用图像后处理算法对滤线栅产生的伪影进行去除。

滤线栅和平板探测器的组合对伪影去除的效果起着重要的作用，在很多X光产品中，一个医疗成像系统能够采用两个或更多个不同类型的平板探测器(flat planedetector sharing)，现有的方案无法实现针对不同平板探测器与滤线栅的组合均能够达到良好的伪影去除效果。

发明内容

有鉴于此，本发明一方面提出了一种平板探测器与滤线栅的适配方法。根据一种实施方式的平板探测器与滤线栅的适配方法用于一平板探测器和滤线栅的组合，该方法包括：a)采集经曝光的第一图像；b)获取所述平板探测器的基本信息；c)获取所述滤线栅的栅线理论频率f_g；d)根据所述平板探测器的基本信息确定所述平板探测器的实际采样频率f_s，并根据所述栅线理论频率f_g和所述平板探测器的实际采样频率f_s计算所述滤线栅导致的所述第一图像中的栅线伪影的预估频率f_estimate；e)以所述栅线伪影的预估频率f_estimate为中心设定最大允许偏差区间；以及f)在所述最大允许偏差区间内查找所述栅线伪影所处的实际频率，并去除所述第一图像中的所述栅线伪影，得到第二图像。

可选地，所述的平板探测器与滤线栅的适配方法还包括：g)判断所述第二图像是否达到预设的伪影去除标准，若所述第二图像达到预设的伪影去除标准，则输出所述第二图像。

可选地，所述的平板探测器与滤线栅的适配方法还包括：若所述第二图像未达到预设的伪影去除标准，则再次进行步骤b)-步骤g)。

可选地，其中若所述第二图像未达到预设的伪影去除标准累积到预定次数，则进行报错。

可选地，其中在步骤b)中所获取的所述平板探测器的基本信息包括：平板探测器的尺寸、像素值、像素形状；并且其中在步骤d)中根据所述像素值计算所述平板探测器的实际采样频率f_s。

可选地，其中在步骤d)中还包括通过如下方式计算所述栅线伪影的预估频率f_estimate：

判断所述平板探测器的实际采样频率f_s是否满足奈奎斯特采样率，使得f_s≥2f_g，如果是，则确定所述栅线伪影的预估频率f_estimate＝f_g；否则，根据如下表达式确定所述栅线伪影的预估频率：

其中，k₁和k₂为整数，且k₁、k₂分别满足下列不等式：