[发明专利]定位方法、定位装置和电子设备有效
申请号: | 201611031411.2 | 申请日: | 2016-11-18 |
公开(公告)号: | CN108072371B | 公开(公告)日: | 2021-05-11 |
发明(设计)人: | 赵倩;田军;丁根明;谢莉莉 | 申请(专利权)人: | 富士通株式会社 |
主分类号: | G01C21/20 | 分类号: | G01C21/20 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 陶海萍;王曦 |
地址: | 日本神奈*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本申请实施例提供一种定位装置、定位方法和电子设备,该定位装置包括:获取单元,其用于获取与待定位物体的运动和所处环境相关的检测信号;步长计算单元,其根据所述检测信号,计算所述待定位物体的粗步长;步长校正单元,其根据基于所述粗步长所得到的粒子滤波模型中各粒子的位置,对所述粗步长进行校正处理,以得到所述待定位物体的精步长;粒子滤波单元,其根据所述精步长以及所述检测信号,采用所述粒子滤波模型,计算所述待定位物体的位置。根据本实施例,提高了定位结果的准确性。 | ||
搜索关键词: | 定位 方法 装置 电子设备 | ||
【主权项】:
1.一种定位装置,该定位装置包括:获取单元,其用于获取与待定位物体的运动和所处环境相关的检测信号;步长计算单元,其根据所述检测信号,计算所述待定位物体的粗步长;步长校正单元,其根据基于所述粗步长所得到的粒子滤波模型中各粒子的位置,对所述粗步长进行校正处理,以得到所述待定位物体的精步长;以及粒子滤波单元,其根据所述精步长以及所述检测信号,采用所述粒子滤波模型,计算所述待定位物体的位置。
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