[发明专利]定位方法、定位装置和电子设备有效

专利信息
申请号: 201611031411.2 申请日: 2016-11-18
公开(公告)号: CN108072371B 公开(公告)日: 2021-05-11
发明(设计)人: 赵倩;田军;丁根明;谢莉莉 申请(专利权)人: 富士通株式会社
主分类号: G01C21/20 分类号: G01C21/20
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 陶海萍;王曦
地址: 日本神奈*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 定位 方法 装置 电子设备
【权利要求书】:

1.一种定位装置,该定位装置包括:

获取单元,其用于获取与待定位物体的运动和所处环境相关的检测信号;

步长计算单元,其根据所述检测信号,计算所述待定位物体的粗步长;

步长校正单元,其根据基于所述粗步长所得到的粒子滤波模型中各粒子的位置,对所述粗步长进行校正处理,以得到所述待定位物体的精步长;以及

粒子滤波单元,其根据所述精步长以及所述检测信号,采用所述粒子滤波模型,计算所述待定位物体的位置;

其中,在所述待定位物体的运动方向已知的情况下,

在所述各粒子的几何中心位置值与所述各粒子的加权中心位置值的欧氏距离D小于或等于第一预定阈值R1的情况下,所述步长校正单元进行使所述精步长等于所述粗步长的校正处理;

在所述欧氏距离D大于所述第一预定阈值R1的情况下,所述步长校正单元进行使所述精步长大于所述粗步长、或小于所述粗步长的校正处理。

2.如权利要求1所述的定位装置,其中,所述步长计算单元包括:

提取子单元,其根据所述检测信号,计算所述待定位物体的运动的步频和加速度幅值;以及

计算子单元,其根据所述步频、以及所述加速度幅值的最大值和最小值,计算所述待定位物体的所述粗步长。

3.如权利要求1所述的定位装置,其中,在所述欧氏距离D大于所述第一预定阈值R1的情况下,

所述步长校正单元根据所述各粒子的加权中心位置值在沿所述运动方向的一维值X1与所述各粒子的几何中心位置值在沿所述运动方向的一维值X2之间的关系,来进行所述校正处理。

4.如权利要求3所述的定位装置,其中,

在所述加权中心位置值在沿所述运动方向的一维值X1大于所述几何中心位置值在沿所述运动方向的一维值X2的情况下,所述步长校正单元进行使所述精步长大于所述粗步长的校正处理;

在所述加权中心位置值在沿所述运动方向的一维值X1小于所述几何中心位置值在沿所述运动方向的一维值X2的情况下,所述步长校正单元进行使所述精步长小于所述粗步长的校正处理。

5.如权利要求4所述的定位装置,其中,在当前时刻之前的第一预定时间段内,

在连续N1次检测到所述加权中心位置值在沿所述运动方向的一维值X1大于所述几何中心位置值在沿所述运动方向的一维值X2的情况下,所述步长校正单元进行使所述精步长大于所述粗步长的校正处理,其中,N1是大于1的自然数;

在连续N2次检测到所述加权中心位置值在沿所述运动方向的一维值X1小于所述几何中心位置值在沿所述运动方向的一维值X2的情况下,所述步长校正单元进行使所述精步长小于所述粗步长的校正处理,其中,N2是大于1的自然数。

6.一种定位装置,该定位装置包括:

获取单元,其用于获取与待定位物体的运动和所处环境相关的检测信号;

步长计算单元,其根据所述检测信号,计算所述待定位物体的粗步长;

步长校正单元,其根据基于所述粗步长所得到的粒子滤波模型中各粒子的位置,对所述粗步长进行校正处理,以得到所述待定位物体的精步长;以及

粒子滤波单元,其根据所述精步长以及所述检测信号,采用所述粒子滤波模型,计算所述待定位物体的位置;

其中,在所述待定位物体的运动方向未知的情况下,

所述步长校正单元根据所述各粒子的加权中心位置值在沿拟合方向的一维值X’1与所述各粒子的几何中心位置值在沿所述拟合方向的一维值X’2之间的差值的变化趋势,来进行所述校正处理,

其中,所述拟合方向是通过对当前时刻之前的第二预定时间段内各时刻的各粒子的加权中心位置值或各粒子的几何中心位置值进行拟合而得到的方向。

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