[发明专利]一种差动式位移传感器的测试系统及其测试方法有效

专利信息
申请号: 201610847035.8 申请日: 2016-09-23
公开(公告)号: CN107869948B 公开(公告)日: 2023-09-29
发明(设计)人: 叶丽花 申请(专利权)人: 上海华银电器有限公司
主分类号: G01B7/02 分类号: G01B7/02
代理公司: 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 代理人: 叶敏华
地址: 201111 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种差动式位移传感器测试系统及其测试方法,包括测试时与位移传感器连接的数字万用表、函数发生器和负载电阻,还包括底座、安装在底座上的支架,支架上安装垂直安装架,垂直安装架设有安装位移传感器的半圆槽,底座上设有万向微调磁性表座以及带有旋转手柄的高度尺,万向微调磁性表座上安装百分表,高度尺连接铁芯移动杆。与现有技术相比,本发明结构简单,方便实现,测试位移和电压精度高,使用高度尺,确保位移精度,使用百分表探测铁芯位移,测试铁芯位移准确性高;高精度五位半数字万用表,确保了输出电压测试精度,同时价格低廉,满足工程应用需要。
搜索关键词: 一种 差动 位移 传感器 测试 系统 及其 方法
【主权项】:
一种差动式位移传感器测试系统,包括测试时与位移传感器(4)连接的数字万用表(11)、函数发生器(12)和负载电阻,还包括底座(1)、安装在底座(1)上的支架(2),支架(2)上安装垂直安装架(3),其特征在于,所述的垂直安装架(3)设有安装位移传感器(4)的半圆槽,所述的底座(1)上设有万向微调磁性表座(8)以及带有旋转手柄的高度尺(10),所述的万向微调磁性表座(8)上安装百分表(9),所述的高度尺(10)连接铁芯移动杆(6)。
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