[发明专利]一种差动式位移传感器的测试系统及其测试方法有效

专利信息
申请号: 201610847035.8 申请日: 2016-09-23
公开(公告)号: CN107869948B 公开(公告)日: 2023-09-29
发明(设计)人: 叶丽花 申请(专利权)人: 上海华银电器有限公司
主分类号: G01B7/02 分类号: G01B7/02
代理公司: 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 代理人: 叶敏华
地址: 201111 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 差动 位移 传感器 测试 系统 及其 方法
【权利要求书】:

1.一种差动式位移传感器测试方法,其特征在于,所述测试方法采用差动式位移传感器测试系统实现,所述差动式位移传感器测试系统包括测试时与位移传感器(4)连接的数字万用表(11)、函数发生器(12)和负载电阻,还包括底座(1)、安装在底座(1)上的支架(2),支架(2)上安装垂直安装架(3),其特征在于,所述的垂直安装架(3)设有安装位移传感器(4)的半圆槽,所述的底座(1)上设有万向微调磁性表座(8)以及带有旋转手柄的高度尺(10),所述的万向微调磁性表座(8)上安装百分表(9),所述的高度尺(10)连接铁芯移动杆(6);

所述的垂直安装架(3)设有辅助安装块(5),辅助安装块(5)上安装用于固定位移传感器(4)的快速夹头(7);

具体测试过程包括以下步骤:

(a)将位移传感器(4)安装在垂直安装架(3)的半圆槽中,使位移传感器(4)的传感器铁芯(13)处于自由垂直状态,使百分表(9)的表头接触传感器铁芯(13)的上端,传感器铁芯(13)的下端不与铁芯移动杆(6)接触,打开函数发生器(12)为位移传感器(4)供电,将高度尺(10)和百分表(9)的数字归零;

(b)旋转高度尺(10)的旋转手柄,带动铁芯移动杆(6)自下向上移动,当铁芯移动杆(6)触碰到传感器铁芯(13)后,记录百分表(9)读数的变化量,作为传感器铁芯(13)的移动初值,移开百分表(9),将高度尺(10)数字归零,使铁芯移动杆(6)推动传感器铁芯(13)继续向上移动;

(c)铁芯移动杆(6)推动传感器铁芯(13)升到最高位置后,记录高度尺(10)的位移数据,加上移动初值,作为传感器铁芯(13)的最大移动位移;

(d)重复步骤(b),在传感器铁芯(13)从下往上移动过程中,探测数字万用表(11)输出电压的最小值,作为输出中心点;

(e)找到输出中心点后,将高度尺(10)数字归零,使传感器铁芯(13)以输出中心点为中心向上或向下对称移动,记录相应的移动位移数据及输出电压值,通过位移数据及输出电压值计算位移传感器(4)的线性度、对称度和灵敏度。

2.根据权利要求1所述的一种差动式位移传感器测试方法,其特征在于,所述的半圆槽的下端设有防止位移传感器(4)下滑的凸出台阶。

3.根据权利要求1所述的一种差动式位移传感器测试方法,其特征在于,所述的万向微调磁性表座(8)通过磁力吸附在底座(1)上。

4.根据权利要求1所述的一种差动式位移传感器测试方法,其特征在于,所述的数字万用表(11)采用高精度数字式五位半数字万用表。

5.根据权利要求1所述的一种差动式位移传感器测试方法,其特征在于,所述的垂直安装架(3)通过螺钉与支架(2)连接,所述的辅助安装块(5)通过螺钉与垂直安装架(3)连接,所述的快速夹头通过螺钉与辅助安装块(5)连接。

6.根据权利要求1所述的一种差动式位移传感器测试方法,其特征在于,该测试系统的测试位移精度为0.01mm,输出电压值精确至0.001mV。

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